2018
Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis
GOLDSTEIN, Joseph; David C. JOY; Joseph R. MICHAEL; Dale E. NEWBURY; Nicholas W. M. RITCHIE et al.Základní údaje
Originální název
Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis
Autoři
GOLDSTEIN, Joseph; David C. JOY; Joseph R. MICHAEL; Dale E. NEWBURY; Nicholas W. M. RITCHIE a John Henry J. SCOTT
Vydání
Fourth edition. New York, xxiii, 550, 2018
Nakladatel
Springer
Další údaje
Označené pro přenos do RIV
Ne
ISBN
9781493966745
Změněno: 2. 3. 2026 07:50, Záznam byl importován z knihovního systému.