2018

Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis

GOLDSTEIN, Joseph; David C. JOY; Joseph R. MICHAEL; Dale E. NEWBURY; Nicholas W. M. RITCHIE et al.

Základní údaje

Originální název

Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis

Autoři

GOLDSTEIN, Joseph; David C. JOY; Joseph R. MICHAEL; Dale E. NEWBURY; Nicholas W. M. RITCHIE a John Henry J. SCOTT

Vydání

Fourth edition. New York, xxiii, 550, 2018

Nakladatel

Springer

Další údaje

Označené pro přenos do RIV

Ne

ISBN

9781493966745