1999
The far-infrared in-plane conductiivity of YBaCuO studied by ellipsometry
GOLNIK, A.; Ch. BERNHARD; Josef HUMLÍČEK; M. KLAESER; M. CARDONA et al.Základní údaje
Originální název
The far-infrared in-plane conductiivity of YBaCuO studied by ellipsometry
Autoři
GOLNIK, A.; Ch. BERNHARD; Josef HUMLÍČEK; M. KLAESER a M. CARDONA
Vydání
physics status solidi (b), 1999
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Článek v odborném periodiku
Obor
10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele
Německo
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Označené pro přenos do RIV
Ano
Kód RIV
RIV/00216224:14310/99:00002198
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
Změněno: 26. 2. 2001 13:35, prof. RNDr. Josef Humlíček, CSc.
Anotace
V originále
We present far-infrared ellipsometric measurements of the in-plane (a-axis) complex dielectric function of an untwinned YBa2Cu3O6.9 single crystal. The relatively small sample size and the high angle of incidence (85 degrees) make it necessary that we take into account diffraction effects.
Návaznosti
| MSM 143100002, záměr |
|