MIKULÍK, Petr. X-ray reflectivity from planar and structured multilayers : Réflectivité des rayons X par des milticouches planaires et structurées (Souběž.) : Rentgenová reflektivita rovinných a strukturovaných multivrstev (Souběž.). 151 s. 1997.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název X-ray reflectivity from planar and structured multilayers : Réflectivité des rayons X par des milticouches planaires et structurées (Souběž.) : Rentgenová reflektivita rovinných a strukturovaných multivrstev (Souběž.)
Autoři MIKULÍK, Petr.
Vydání 151 s. 1997.
Další údaje
Typ výsledku Odborná kniha
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
Příznaky Mezinárodní význam, Recenzováno
Změnil Změnil: doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D., učo 855. Změněno: 12. 2. 2007 18:50.
VytisknoutZobrazeno: 28. 3. 2024 19:09