X-ray reflectivity from planar and structured multilayers : Réflectivité des rayons X par des milticouches planaires et structurées (Souběž.) : Rentgenová reflektivita rovinných a strukturovaných multivrstev (Souběž.)

MIKULÍK, Petr. X-ray reflectivity from planar and structured multilayers : Réflectivité des rayons X par des milticouches planaires et structurées (Souběž.) : Rentgenová reflektivita rovinných a strukturovaných multivrstev (Souběž.). 1997, 151 s.

Základní údaje

Originální název

X-ray reflectivity from planar and structured multilayers : Réflectivité des rayons X par des milticouches planaires et structurées (Souběž.) : Rentgenová reflektivita rovinných a strukturovaných multivrstev (Souběž.)

Autoři

MIKULÍK, Petr

Vydání

151 s. 1997

---

Další údaje

Typ výsledku

Odborná kniha

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Označené pro přenos do RIV

Ne

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

Příznaky

Mezinárodní význam, Recenzováno