B 1997

X-ray reflectivity from planar and structured multilayers : Réflectivité des rayons X par des milticouches planaires et structurées (Souběž.) : Rentgenová reflektivita rovinných a strukturovaných multivrstev (Souběž.)

MIKULÍK, Petr

Základní údaje

Originální název

X-ray reflectivity from planar and structured multilayers : Réflectivité des rayons X par des milticouches planaires et structurées (Souběž.) : Rentgenová reflektivita rovinných a strukturovaných multivrstev (Souběž.)

Autoři

Vydání

151 s. 1997

Další údaje

Typ výsledku

Odborná kniha

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

Příznaky

Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 12. 2. 2007 18:50, doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D.