1997
X-ray reflectivity from planar and structured multilayers : Réflectivité des rayons X par des milticouches planaires et structurées (Souběž.) : Rentgenová reflektivita rovinných a strukturovaných multivrstev (Souběž.)
MIKULÍK, PetrZákladní údaje
Originální název
X-ray reflectivity from planar and structured multilayers : Réflectivité des rayons X par des milticouches planaires et structurées (Souběž.) : Rentgenová reflektivita rovinných a strukturovaných multivrstev (Souběž.)
Autoři
Vydání
151 s. 1997
Další údaje
Typ výsledku
Odborná kniha
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
Příznaky
Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 12. 2. 2007 18:50, doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D.