B 1999

High-Resolution X-Ray Scattering From Thin Films and Multilayers

HOLÝ, Václav, U. PIETSCH a T. BAUMBACH

Základní údaje

Originální název

High-Resolution X-Ray Scattering From Thin Films and Multilayers

Autoři

HOLÝ, Václav, U. PIETSCH a T. BAUMBACH

Vydání

Berlin, Heidelberg, New York, 256 s. Springer-Verlag, 1999

Nakladatel

Springer Tracts in Modern Physics

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Odborná kniha

Obor

10302 Condensed matter physics

Stát vydavatele

Německo

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Kód RIV

RIV/00216224:14310/99:00002996

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

Klíčová slova anglicky

High-Resolution X-Ray Scattering From Thin Films and Multilayers
Změněno: 27. 2. 2001 10:23, Marta Fědorová

Anotace

V originále

High-Resolution X-Ray Scattering From Thin Films and Multilayers

Návaznosti

MSM 143100002, záměr
Název: Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur