CHOUKOUROV, A., Y. PIHOSH, V. STELMASHUK, Hynek BIEDERMAN, D. SLAVÍNSKÁ, M. KORMUNDA a Lenka ZAJÍČKOVÁ. Rf sputtering of composite SiOx/plasma polymer films and their basic properties. Surface & coatings technology. Elsevier Science, 2002, roč. 2002, 151-152, s. 214-217. ISSN 0257-8972.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Rf sputtering of composite SiOx/plasma polymer films and their basic properties
Autoři CHOUKOUROV, A. (804 Ukrajina), Y. PIHOSH (804 Ukrajina), V. STELMASHUK (804 Ukrajina), Hynek BIEDERMAN (203 Česká republika), D. SLAVÍNSKÁ (203 Česká republika), M. KORMUNDA (203 Česká republika) a Lenka ZAJÍČKOVÁ (203 Česká republika, garant).
Vydání Surface & coatings technology, Elsevier Science, 2002, 0257-8972.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10305 Fluids and plasma physics
Stát vydavatele Nizozemské království
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Impakt faktor Impact factor: 1.267
Kód RIV RIV/00216224:14310/02:00005643
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
UT WoS 000174011400044
Klíčová slova anglicky Rf magnetron; sputtering; SiOx; plasma polymer films
Štítky plasma polymer films, Rf magnetron, SiOx, sputtering
Příznaky Mezinárodní význam, Recenzováno
Změnil Změnila: doc. Mgr. Lenka Zajíčková, Ph.D., učo 1414. Změněno: 17. 7. 2007 17:57.
Anotace
Rf sputtering of composite SiOx/plasma polymer films and their basic properties
Návaznosti
GA202/00/P037, projekt VaVNázev: Plazmová depozice ochranných vrstev: charakterizace připravených vrstev a diagnostika užitého reaktivního plazmatu
Investor: Grantová agentura ČR, Plazmová depozice ochranných vrstev: charakterizace připravených vrstev a diagnostika užitého reaktivního plazmatu
MSM 143100003, záměrNázev: Studium plazmochemických reakcí v neizotermickém nízkoteplotním plazmatu a jeho interakcí s povrchem pevných látek
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Studium plazmochemických reakcí v neizotermickém nízkoteplotním plazmatu a jeho interakcí s povrchem pevných látek
VytisknoutZobrazeno: 27. 7. 2024 14:07