FRANTA, Daniel, Ivan OHLÍDAL, Jaroslav HORA a Karel NAVRÁTIL. Spektroskopická elipsometrie slabě drsných povrchů. In 12. konference českých a slovenských fyziků. Ostrava: Fyzikální vědecká sekce Jednoty českých matematiků a fyziků, 1996, s. 482-485.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Spektroskopická elipsometrie slabě drsných povrchů
Název anglicky Spectroscopic Ellipsometry of Slightly Rough Surfaces
Autoři FRANTA, Daniel, Ivan OHLÍDAL, Jaroslav HORA a Karel NAVRÁTIL.
Vydání Ostrava, 12. konference českých a slovenských fyziků, s. 482-485, 1996.
Nakladatel Fyzikální vědecká sekce Jednoty českých matematiků a fyziků
Další údaje
Originální jazyk čeština
Typ výsledku Stať ve sborníku
Obor 10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele Česká republika
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
WWW URL
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
Změnil Změnil: Mgr. Daniel Franta, Ph.D., učo 2000. Změněno: 19. 12. 2003 19:19.
Anotace
V tomto příspěvku ukážeme, že vztahy pro elipsometrické parametry a odrazivost odvozené v rámci námi zobecněné Rayleigh-Riceovy teorie (RRT) mohou být využity pro analýzu tenkých vrstev se slabě drsnými rozhraními.
Anotace anglicky
In this contribution we will show that equations for ellipsometric quantities and reflectance derived by us generalized Rayleigh-Rice theory (RRT) can be used for analysis of slightly rough thin layers.
VytisknoutZobrazeno: 24. 4. 2024 23:29