2002
Strain in buried self-assembled SiGe wires studied by grazing-incidence x-ray diffraction
ROCH, Tomáš a Václav HOLÝZákladní údaje
Originální název
Strain in buried self-assembled SiGe wires studied by grazing-incidence x-ray diffraction
Autoři
ROCH, Tomáš (703 Slovensko) a Václav HOLÝ (203 Česká republika, garant)
Vydání
Physical Review B, USA, American Physical Society, 2002, 0163-1829
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Článek v odborném periodiku
Obor
10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele
Spojené státy
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Impakt faktor
Impact factor: 3.070 v roce 2001
Kód RIV
RIV/00216224:14310/02:00007672
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
UT WoS
000177043100083
Klíčová slova anglicky
Strain in buried self-assembled SiGe wires studied by grazing-incidence x-ray diffraction
Změněno: 12. 2. 2007 14:17, prof. RNDr. Václav Holý, CSc.
Anotace
V originále
Strain in buried self-assembled SiGe wires studied by grazing-incidence x-ray diffraction
Návaznosti
GA202/00/0354, projekt VaV |
| ||
MSM 143100002, záměr |
|