MEDUŇA, Mojmír, Václav HOLÝ a Julian STANGL. Non-specular X-ray reflection from self-organized ripple structures in Si/Ge multilayers. Physica E. Amsterdam: Elsevier Science, 2002, roč. 13, č. 4, s. 1003-1009. ISSN 1386-9477.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Non-specular X-ray reflection from self-organized ripple structures in Si/Ge multilayers
Autoři MEDUŇA, Mojmír (203 Česká republika), Václav HOLÝ (203 Česká republika, garant) a Julian STANGL (40 Rakousko).
Vydání Physica E, Amsterdam, Elsevier Science, 2002, 1386-9477.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele Nizozemské království
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Impakt faktor Impact factor: 1.107
Kód RIV RIV/00216224:14310/02:00007676
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
UT WoS 000176869100212
Klíčová slova anglicky Non-specular X-ray reflection from self-organized ripple structures in Si/Ge multilayers
Příznaky Mezinárodní význam, Recenzováno
Změnil Změnil: Mgr. Mojmír Meduňa, Ph.D., učo 7898. Změněno: 31. 1. 2008 14:16.
Anotace
Non-specular X-ray reflection from self-organized ripple structures in Si/Ge multilayers
Návaznosti
GA202/00/0354, projekt VaVNázev: Procesy samouspořádání rozhraní při epitaxním růstu polovodičových supermřížek
Investor: Grantová agentura ČR, Procesy samouspořádání rozhraní při epitaxním růstu polovodičových supermřížek
MSM 143100002, záměrNázev: Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
VytisknoutZobrazeno: 30. 6. 2024 19:34