OHLÍDAL, Ivan, Miloslav OHLÍDAL, Petr KLAPETEK, Vladimír ČUDEK a Miloš JÁKL. Characterization of thin films non-uniform in optical parameters by spectroscopic digital reflectometry. Proceedings of SPIE. Bellingham: SPIE, 2003, roč. 5182, č. 2, s. 260-271, 11 s. ISSN 0277-786X.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Characterization of thin films non-uniform in optical parameters by spectroscopic digital reflectometry
Autoři OHLÍDAL, Ivan (203 Česká republika, garant), Miloslav OHLÍDAL (203 Česká republika), Petr KLAPETEK (203 Česká republika), Vladimír ČUDEK (203 Česká republika) a Miloš JÁKL (203 Česká republika).
Vydání Proceedings of SPIE, Bellingham, SPIE, 2003, 0277-786X.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10306 Optics
Stát vydavatele Spojené státy
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Kód RIV RIV/00216224:14310/03:00008532
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
UT WoS 000189405800028
Klíčová slova anglicky fims nonuniform in optical parameters; optical characterization
Štítky optical characterization
Změnil Změnil: prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc., učo 2397. Změněno: 20. 12. 2004 12:02.
Anotace
In this paper, a new optical method for characterizing nonuniform thin films is employed. For applying this method the special experimental arrangement containing CCD camera as a detector is used. Using this experimental arrangement the spectral dependences of the local reflectances are obtained. After treating these experimental data the distributions of the values of the local thicknesses and local refractive index along a large areas of the substrates of the nonuniform films are found. Moreover, it is shown that this method can be used to determine strong nonuniformities in both the optical parameters.
Návaznosti
GA101/01/1104, projekt VaVNázev: Realizace laboratorního vzoru zařízení pro měření drsnosti povrchu metodou holografické interferometrie
Investor: Grantová agentura ČR, Realizace laboratorního vzoru zařízení pro měření drsnosti povrchu metodou holografické interferometrie
GA202/01/1110, projekt VaVNázev: Optické a mechanické vlastnosti tenkých vrstev DLC:Si připravených PECVD metodou
Investor: Grantová agentura ČR, Optické a mechanické vlastnosti tenkých vrstev DLC:Si připravených PECVD metodou
VytisknoutZobrazeno: 5. 5. 2024 14:39