D 2005

Optical Emission Spectroscopy in HMDSO/O2 RF Glow Discharge

ŠMÍD, Radek a Lenka ZAJÍČKOVÁ

Základní údaje

Originální název

Optical Emission Spectroscopy in HMDSO/O2 RF Glow Discharge

Název česky

Optická emisní spektroskopie v HMDSO/O2 vysokofrekvenčních doutnavých výbojích

Autoři

ŠMÍD, Radek (203 Česká republika, garant) a Lenka ZAJÍČKOVÁ (203 Česká republika)

Vydání

1. vyd. Praha, WDS'05 Proceedings of Contributed Papers, Part II, od s. 408-413, 6 s. 2005

Nakladatel

MATFYZPRESS

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Stať ve sborníku

Obor

10305 Fluids and plasma physics

Stát vydavatele

Česká republika

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Odkazy

Kód RIV

RIV/00216224:14310/05:00014213

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

ISBN

80-86732-59-2

Klíčová slova anglicky

Optical emission spectroscopy; hexamethyldisiloxane; oxygen; deposition

Příznaky

Recenzováno
Změněno: 9. 1. 2008 10:53, doc. Mgr. Lenka Zajíčková, Ph.D.

Anotace

V originále

We applied optical emission spectroscopy to study HMDSO/O2 plasmas and detected emission lines and bands related to CO, CO2+, OH, CH, H, H2, O, N2 as an impurity and Ar as an actinometer. We have observed only very low emission of Si and SiO. With increasing rf power the increasing concentration of electrons probably caused increasing intensity of emission. This was confirmed for the concentration of oxygen radicals by actinometry. The changes of HMDSO fraction have much more significant influence on the gas phase composition. The oxygen containing molecules (CO, OH) show the same trend on the HMDSO fraction with a maximum at 0.16. The CH and H species show also similar trends to each other with the maximum at 0.28. It is interesting to notice that this trend was not observed for H2 molecule which intensity increase constantly with the HMDSO fraction. The oxygen atomic line, on the other hand, decreased.

Česky

Použili jsme optickou emisní spektroskopii ke studování HMDSO/O2 plazmatu a detegovali emisní čáry a pásy těchto částic:CO, CO2+, OH, CH, H, H2, O, N2 a Ar jako aktinomeru. Pozorovali jsme jen velmi slabou emisi pro Si a SiO. S rostoucím (vysokofrekvenčním) výkonem jsme pozorovali rostoucí intezitu emise, způsobenou zřejmě rostoucí elektronové koncentraci. Což bylo potvrzeno koncentraci radikálů pomocí aktinometrie. Změny v procentuálním zastoupení HMDSO nemají značný vliv na složení plynu. Molekuly obsahující kyslík (Co, OH) mají společné maximum pro 16% HMDSO. CH a H mají také podobné trendy s maximem okolo 28%. Naproti tomu intenzita H2 molekuly roste s rostoucím zastoupením HMDSO. Atomární čára kyslíku naopak klesá.

Návaznosti

MSM0021622411, záměr
Název: Studium a aplikace plazmochemických reakcí v neizotermickém nízkoteplotním plazmatu a jeho interakcí s povrchem pevných látek
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Studium a aplikace plazmochemických reakcí v neizotermickém nízkoteplotním plazmatu a jeho interakcí s povrchem pevných látek
1K05025, projekt VaV
Název: Příprava nových Si-O(N)-C materiálů plazmochemickou metodou
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Příprava nových Si-O(N)-C materiálů plazmochemickou metodou