J 2005

Patterson-like analysis of diffuse x-ray scattering from epitaxial mosaic PbTe layers on Si(111)

DANIŠ, Stanislav, Václav HOLÝ, Dimitrij ZIMIN a Hans ZOGG

Základní údaje

Originální název

Patterson-like analysis of diffuse x-ray scattering from epitaxial mosaic PbTe layers on Si(111)

Název česky

Pattersonovská analýza difuzního rtg rozptylu na epitaxních vrstvách PbTe na Si

Autoři

DANIŠ, Stanislav (203 Česká republika), Václav HOLÝ (203 Česká republika, garant), Dimitrij ZIMIN (643 Rusko) a Hans ZOGG (756 Švýcarsko)

Vydání

Journal of Applied Physics, USA, American Institute of Physics, 2005, 0021-8979

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10302 Condensed matter physics

Stát vydavatele

Spojené státy

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Impakt faktor

Impact factor: 2.498

Kód RIV

RIV/00216224:14310/05:00013221

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

UT WoS

000233602600032

Klíčová slova anglicky

Patterson-like analysis of diffuse x-ray scattering from epitaxial mosaic PbTe layers on Si(111)
Změněno: 12. 2. 2007 14:17, prof. RNDr. Václav Holý, CSc.

Anotace

ORIG CZ

V originále

Patterson-like analysis of diffuse x-ray scattering from epitaxial mosaic PbTe layers on Si(111)

Česky

Pattersonovská analýza difuzního rtg rozptylu na epitaxních vrstvách PbTe na Si

Návaznosti

GA202/03/0148, projekt VaV
Název: Anomální rozptyl rtg záření na polovodičových nanostrukturách
Investor: Grantová agentura ČR, Anomální rozptyl rtg záření na polovodičových nanostrukturách
MSM0021622410, záměr
Název: Fyzikální a chemické vlastnosti pokročilých materiálů a struktur
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální a chemické vlastnosti pokročilých materiálů a struktur