KLAPETEK, Petr, Ivan OHLÍDAL a Jindřich BÍLEK. Atomic Force Microscope Tip Influence on the Fractal and Multi-Fractal Analyses of the Properties of Randomly Rough Surafaces. In Nanoscale Calibration Standards and Methods: Dimensional and Related Measurements in the Micro-and Nanometer Range. Weinheim 2005: Wiley-VCH Verlag GmbH and Co. KGaA. s. 452-462. ISBN 3-527-40502-X. 2005.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Atomic Force Microscope Tip Influence on the Fractal and Multi-Fractal Analyses of the Properties of Randomly Rough Surafaces
Název česky Vliv hrotu mikroskopu atomové síly na fraktálovou a multi-fraktálovou analýzu vlastností náhodně drsných povrchů
Autoři KLAPETEK, Petr (203 Česká republika), Ivan OHLÍDAL (203 Česká republika, garant) a Jindřich BÍLEK (203 Česká republika).
Vydání Weinheim 2005, Nanoscale Calibration Standards and Methods: Dimensional and Related Measurements in the Micro-and Nanometer Range, od s. 452-462, 11 s. 2005.
Nakladatel Wiley-VCH Verlag GmbH and Co. KGaA
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Stať ve sborníku
Obor 10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele Německo
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Kód RIV RIV/00216224:14310/05:00015082
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
ISBN 3-527-40502-X
Klíčová slova anglicky AFM
Štítky AFM
Změnil Změnil: prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc., učo 2397. Změněno: 28. 2. 2006 20:00.
Anotace
In this chapter several fractal and multi-fractal analysis methods are studied to characterize their efficiency on evaluating fractal properties of randomly rough surfaces. Moreover, results concerning estimation of atomic force microscopy (AFM) tip influence on evaluation of fractal properties of rough surfaces are presented. Randomly rough surfaces are simulated by means of spectral synthesis method and AFM tip convolution with the simulated surface is numerically performed. The results of the fractal and multi-fractal analysis before and after tip convolution are compared. It is shown that significant discrepancies can be observed between different fractal analysis methods applied on the same simulated data. This fact is true in particular if the data are convolved with AFM tip having relatively large apex radius in comparison to objects forming surface roughness
Anotace česky
V této kapitole jsou studovány metody fraktálové a multi-fraktálové analýzy z hlediska charakterizace jejich efektivity při hodnocení fraktálových vlastností náhodně drsných povrchů. Navíc jsou zde uvedeny výsledky týkající se odhadu vlivu hrotu mikroskopu na určení fraktálových vlastností drsných povrchů. Náhodně drsné povrchy jsou simulovány pomocí metody spektrální syntézy a AFM konvoluce hrotu se simulovaným povrchem je provedena numericky. Výsledky fraktálové analýzy před a po konvoluci jsou srovnány. Je ukázáno, že mohou být pozorovány významné nesrovnalosti mezi těmito rozdílnými metodami fraktálové analýzy aplikovanými na simulovaná data. Tato skutečnost je platná zvláště, když data jsou dána do konvoluce s hrotem s relativně velkým vrcholem poloměru ve srovnání s objekty vytvářejícími povrchovou drsnost.
Návaznosti
MSM0021622411, záměrNázev: Studium a aplikace plazmochemických reakcí v neizotermickém nízkoteplotním plazmatu a jeho interakcí s povrchem pevných látek
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Studium a aplikace plazmochemických reakcí v neizotermickém nízkoteplotním plazmatu a jeho interakcí s povrchem pevných látek
VytisknoutZobrazeno: 18. 4. 2024 22:32