2006
Investigation of hybrid pixel detector arrays by synchrotron-radiation imaging
HELFEN, L.; A. MYAGOTIN; P. PERNOT; M. DIMICHIEL; Petr MIKULÍK et al.Základní údaje
Originální název
Investigation of hybrid pixel detector arrays by synchrotron-radiation imaging
Název česky
Studium hybridních pixelových detektorů zobrazováním synchrotronovým zářením
Autoři
HELFEN, L.; A. MYAGOTIN; P. PERNOT; M. DIMICHIEL; Petr MIKULÍK; A. BERTHOLD a T. BAUMBACH
Vydání
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research A, 2006, 0168-9002
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Článek v odborném periodiku
Obor
10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele
Nizozemské království
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Odkazy
Impakt faktor
Impact factor: 1.185
Označené pro přenos do RIV
Ano
Kód RIV
RIV/00216224:14310/06:00017350
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
UT WoS
Klíčová slova anglicky
laminography; tomography; synchrotron radiation; x-ray diffraction
Příznaky
Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 12. 2. 2007 18:35, doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D.
V originále
Synchrotron-radiation imaging was applied to the non-destructive testing of detector devices during their development cycle. Transmission imaging known as computed laminography was used to examine the microstructure of the interconnections in order to investigate the perfection of technological steps necessary for hybrid detector production. A characterisation of the solder bump microstructure can reveal production flaws such as missing or misaligned bumps, voids in bumps or bridges and thus give valuable information about the bonding process.
Česky
Zobrazovací metody se synchrotronovým zářením byly aplikovány pro nedestruktivní testování detektorů během jejich provozu. Transmisní zobrazení výpočetní laminografií vyšetřilo mikrostrukturu kontaktů.
Návaznosti
| MSM0021622410, záměr |
|