2007
Interdiffusion in SiGe alloys studied by x-rays
MEDUŇA, Mojmír; Jiří NOVÁK; Günther BAUER; Václav HOLÝ; Claudiu FALUB et. al.Základní údaje
Originální název
Interdiffusion in SiGe alloys studied by x-rays
Název česky
Interdifúze v SiGe slitinách studovaná pomocí rtg
Autoři
MEDUŇA, Mojmír; Jiří NOVÁK; Günther BAUER; Václav HOLÝ; Claudiu FALUB; Soichiro TSUJINO a Detlev GRÜTZMACHER
Vydání
Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology, Praha, 2007, 1211-5894
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Článek v odborném periodiku
Obor
10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele
Česká republika
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Kód RIV
RIV/00216224:14310/07:00020385
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
Klíčová slova anglicky
x-ray reflectivity; interdiffusion; SiGe
Štítky
Příznaky
Mezinárodní význam
Změněno: 31. 1. 2008 14:21, Mgr. Mojmír Meduňa, Ph.D.
V originále
We have investigated SiGe/Si multilayers annealed in-situ at temperatures in the range 780-830 C by x-ray diffraction. From the fits of reflectivity and diffraction we have obtained diffusion coeficients and activation energy for Ge content 50%.
Česky
Studovali jsme SiGe/Si multivrstvy žíhané in-situ při teplotách v rozsahu 780-830 C pomocí rtg difrakce. Z fitování reflexe a difrakce jsme obdrželi difúzní koeficienty a aktivační energie pro obsah Ge 50%.
Návaznosti
| GP202/05/P286, projekt VaV |
| ||
| MSM0021622410, záměr |
|