Microdiffraction imaging of dislocation densities in
microstructured samples

J 2008

Microdiffraction imaging of dislocation densities in microstructured samples

LÜBBERT, D., T. BAUMBACH, Václav HOLÝ, Petr MIKULÍK, L. HELFEN et. al.

Základní údaje

Originální název

Microdiffraction imaging of dislocation densities in microstructured samples

Název česky

Mikrodifrakční zobrazování hustoty dislokaci v mikrostrukturních vzorcích

Autoři

LÜBBERT, D. (276 Německo), T. BAUMBACH (276 Německo), Václav HOLÝ (203 Česká republika), Petr MIKULÍK (203 Česká republika, garant), L. HELFEN (276 Německo), P. PERNOT (203 Česká republika), M. ELLYAN (275 Palestina), S. KELLER (840 Spojené státy), T.M. KATONA (840 Spojené státy), S.P. DENBAARS (840 Spojené státy) a J. SPECK (840 Spojené státy)

Vydání

Europhysics Letters, Paríž, European Physical Society, 2008, 0295-5075

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10302 Condensed matter physics

Stát vydavatele

Velká Británie a Severní Irsko

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Odkazy

URL

Impakt faktor

Impact factor: 2.203

Kód RIV

RIV/00216224:14310/08:00026031

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

UT WoS

000256301100016

Klíčová slova anglicky

X-ray diffraction; X-ray topography; Microdiffraction; Rocking curve imaging; Dislocations; GaN

Štítky

Dislocations, GaN, Microdiffraction, Rocking curve imaging, X-ray diffraction, X-ray topography

Příznaky

Mezinárodní význam, Recenzováno

Změněno: 10. 7. 2009 10:22, doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D.

Anotace

ORIG CZ

V originále

A full field X-ray microdiffraction technique is developed providing simultaneously both micrometer-resolved information of crystalline perfection as well as statistical information about the macroscopically illuminated sample. The method allows a detailed characterization of patterned substrates grown by epitaxial lateral overgrowth. Local wing tilts and their fluctuation over the sample area as well as the local and average number of grains in the wings are determined, and the reduction of threading dislocation densities in the grains of the ELO wings can be quantitatively estimated.

Česky

Vyvinuli jsme rtg mikrodifrakční metodu, která umožňuje současně mikrometrové laterální rozlišení strukturní dokonalosti krystalu, stejně jako získání statické informace o makroskopicky ozářeném vzorku. Metoda dovoluje detailní charakterizaci tvarovaných substrátů pokrytých epitaxní vrstvou. Metoda umožňuje analyzovat lokální rozorientaci krystalitů a zrn na ozářené ploše vzorku a dále kvalitativně odhadnout hustotu dislokací v zrnech.

Návaznosti

MSM0021622410, záměr

Název: Fyzikální a chemické vlastnosti pokročilých materiálů a struktur

Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální a chemické vlastnosti pokročilých materiálů a struktur

Citovat

LÜBBERT, D., T. BAUMBACH, Václav HOLÝ, Petr MIKULÍK, L. HELFEN, P. PERNOT, M. ELLYAN, S. KELLER, T.M. KATONA, S.P. DENBAARS a J. SPECK. Microdiffraction imaging of dislocation densities in microstructured samples. Europhysics Letters. Paríž: European Physical Society, 2008, roč. 82, č. 5, s. 56002-56006. ISSN 0295-5075.

@article{768530,
   author = {Lübbert, D. and Baumbach, T. and Holý, Václav and Mikulík, Petr and Helfen, L. and Pernot, P. and Ellyan, M. and Keller, S. and Katona, T.M. and DenBaars, S.P. and Speck, J.},
   article_location = {Paríž},
   article_number = {5},
   keywords = {X-ray diffraction; X-ray topography; Microdiffraction; Rocking curve imaging; Dislocations; GaN},
   language = {eng},
   issn = {0295-5075},
   journal = {Europhysics Letters},
   title = {Microdiffraction imaging of dislocation densities in microstructured samples},
   url = {http://www.sci.muni.cz/~mikulik/Publications.html#LubbertBaumbachHoly-EPL-2008},
   volume = {82},
   year = {2008}
}

TY  - JOUR
ID  - 768530
AU  - Lübbert, D. - Baumbach, T. - Holý, Václav - Mikulík, Petr - Helfen, L. - Pernot, P. - Ellyan, M. - Keller, S. - Katona, T.M. - DenBaars, S.P. - Speck, J.
PY  - 2008
TI  - Microdiffraction imaging of dislocation densities in microstructured samples
JF  - Europhysics Letters
VL  - 82
IS  - 5
SP  - 56002
EP  - 56002
PB  - European Physical Society
SN  - 02955075
KW  - X-ray diffraction
KW  - X-ray topography
KW  - Microdiffraction
KW  - Rocking curve imaging
KW  - Dislocations
KW  - GaN
UR  - http://www.sci.muni.cz/~mikulik/Publications.html#LubbertBaumbachHoly-EPL-2008
N2  - A full field X-ray microdiffraction technique is developed providing simultaneously both micrometer-resolved information of crystalline perfection as well as statistical information about the macroscopically illuminated sample. The method allows a detailed characterization of patterned substrates grown by epitaxial lateral overgrowth. Local wing tilts and their fluctuation over the sample area as well as the local and average number of grains in the wings are determined, and the reduction of threading dislocation densities in the grains of the ELO wings can be quantitatively estimated.
ER  -

LÜBBERT, D., T. BAUMBACH, Václav HOLÝ, Petr MIKULÍK, L. HELFEN, P. PERNOT, M. ELLYAN, S. KELLER, T.M. KATONA, S.P. DENBAARS a J. SPECK. Microdiffraction imaging of dislocation densities in microstructured samples. \textit{Europhysics Letters}. Paríž: European Physical Society, 2008, roč.~82, č.~5, s.~56002-56006. ISSN~0295-5075.

Podrobný výpis o publikaci