LÜBBERT, D., T. BAUMBACH, Václav HOLÝ, Petr MIKULÍK, L. HELFEN, P. PERNOT, M. ELLYAN, S. KELLER, T.M. KATONA, S.P. DENBAARS a J. SPECK. Microdiffraction imaging of dislocation densities in microstructured samples. Europhysics Letters. Paríž: European Physical Society, 2008, roč. 82, č. 5, s. 56002-56006. ISSN 0295-5075.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Microdiffraction imaging of dislocation densities in microstructured samples
Název česky Mikrodifrakční zobrazování hustoty dislokaci v mikrostrukturních vzorcích
Autoři LÜBBERT, D. (276 Německo), T. BAUMBACH (276 Německo), Václav HOLÝ (203 Česká republika), Petr MIKULÍK (203 Česká republika, garant), L. HELFEN (276 Německo), P. PERNOT (203 Česká republika), M. ELLYAN (275 Palestina), S. KELLER (840 Spojené státy), T.M. KATONA (840 Spojené státy), S.P. DENBAARS (840 Spojené státy) a J. SPECK (840 Spojené státy).
Vydání Europhysics Letters, Paríž, European Physical Society, 2008, 0295-5075.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele Velká Británie a Severní Irsko
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
WWW URL
Impakt faktor Impact factor: 2.203
Kód RIV RIV/00216224:14310/08:00026031
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
UT WoS 000256301100016
Klíčová slova anglicky X-ray diffraction; X-ray topography; Microdiffraction; Rocking curve imaging; Dislocations; GaN
Štítky Dislocations, GaN, Microdiffraction, Rocking curve imaging, X-ray diffraction, X-ray topography
Příznaky Mezinárodní význam, Recenzováno
Změnil Změnil: doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D., učo 855. Změněno: 10. 7. 2009 10:22.
Anotace
A full field X-ray microdiffraction technique is developed providing simultaneously both micrometer-resolved information of crystalline perfection as well as statistical information about the macroscopically illuminated sample. The method allows a detailed characterization of patterned substrates grown by epitaxial lateral overgrowth. Local wing tilts and their fluctuation over the sample area as well as the local and average number of grains in the wings are determined, and the reduction of threading dislocation densities in the grains of the ELO wings can be quantitatively estimated.
Anotace česky
Vyvinuli jsme rtg mikrodifrakční metodu, která umožňuje současně mikrometrové laterální rozlišení strukturní dokonalosti krystalu, stejně jako získání statické informace o makroskopicky ozářeném vzorku. Metoda dovoluje detailní charakterizaci tvarovaných substrátů pokrytých epitaxní vrstvou. Metoda umožňuje analyzovat lokální rozorientaci krystalitů a zrn na ozářené ploše vzorku a dále kvalitativně odhadnout hustotu dislokací v zrnech.
Návaznosti
MSM0021622410, záměrNázev: Fyzikální a chemické vlastnosti pokročilých materiálů a struktur
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální a chemické vlastnosti pokročilých materiálů a struktur
VytisknoutZobrazeno: 26. 4. 2024 20:55