J 2008

Characterization of near field optical microscope probes

KLAPETEK, Petr; Miroslav VALTR; Petr KLENOVSKÝ a Jiří BURŠÍK

Základní údaje

Originální název

Characterization of near field optical microscope probes

Název česky

Charakterizace sond do mikroskopu blízkého pole

Autoři

KLAPETEK, Petr; Miroslav VALTR; Petr KLENOVSKÝ a Jiří BURŠÍK

Vydání

Surface and Interface Analysis, USA, John Wiley & Sons. 2008, 0142-2421

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10306 Optics

Stát vydavatele

Česká republika

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Impakt faktor

Impact factor: 1.272

Označené pro přenos do RIV

Ano

Kód RIV

RIV/00216224:14310/08:00025409

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

UT WoS

Klíčová slova anglicky

near field scanning optical microscopy;image artefacts;optical analysis

Štítky

Příznaky

Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 21. 11. 2010 11:36, Mgr. Petr Klenovský, Ph.D.

Anotace

V originále

In this article the far-field radiation analysis of near-field optical probes is presented. It is shown that the quality of probes used for near-field scanning microscopy imaging can be estimated using directional measurements of the far-field radiation patterns. Experimental results are compared with numerical modeling of far-field radiation performed using finite difference in time-domain method (FDTD) and with SEM characterization of real probe geometry. The effects of probe geometry on real measurement on different samples are studied as well.

Návaznosti

FT-TA3/142, projekt VaV
Název: Analýza optických vlastností solárních článků.
Investor: Ministerstvo průmyslu a obchodu ČR, Analýza optických vlastností solárních článků