KLAPETEK, Petr, Miroslav VALTR, Petr KLENOVSKÝ a Jiří BURŠÍK. Characterization of near field optical microscope probes. Surface and Interface Analysis. USA: John Wiley & Sons., 2008, roč. 40, č. 1, s. 482-485. ISSN 0142-2421.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Characterization of near field optical microscope probes
Název česky Charakterizace sond do mikroskopu blízkého pole
Autoři KLAPETEK, Petr (203 Česká republika, garant), Miroslav VALTR (203 Česká republika), Petr KLENOVSKÝ (203 Česká republika) a Jiří BURŠÍK (203 Česká republika).
Vydání Surface and Interface Analysis, USA, John Wiley & Sons. 2008, 0142-2421.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10306 Optics
Stát vydavatele Česká republika
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Impakt faktor Impact factor: 1.272
Kód RIV RIV/00216224:14310/08:00025409
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
UT WoS 000255486200079
Klíčová slova anglicky near field scanning optical microscopy;image artefacts;optical analysis
Štítky image artefacts, optical analysis
Příznaky Mezinárodní význam, Recenzováno
Změnil Změnil: Mgr. Petr Klenovský, Ph.D., učo 105957. Změněno: 21. 11. 2010 11:36.
Anotace
In this article the far-field radiation analysis of near-field optical probes is presented. It is shown that the quality of probes used for near-field scanning microscopy imaging can be estimated using directional measurements of the far-field radiation patterns. Experimental results are compared with numerical modeling of far-field radiation performed using finite difference in time-domain method (FDTD) and with SEM characterization of real probe geometry. The effects of probe geometry on real measurement on different samples are studied as well.
Návaznosti
FT-TA3/142, projekt VaVNázev: Analýza optických vlastností solárních článků.
Investor: Ministerstvo průmyslu a obchodu ČR, TANDEM
VytisknoutZobrazeno: 2. 8. 2021 15:40