High-resolution X-ray scattering : from thin films to lateral
nanostructures

Přeskočit na horní lištu Přeskočit na hlavičku Přeskočit na obsah Přeskočit na patičku

Publikace Přehled o publikaci

Přehled o publikaci

2004

High-resolution X-ray scattering : from thin films to lateral nanostructures

PIETSCH, Ullrich; Václav HOLÝ a Tilo BAUMBACH

Základní údaje

Originální název

High-resolution X-ray scattering : from thin films to lateral nanostructures

Autoři

PIETSCH, Ullrich; Václav HOLÝ a Tilo BAUMBACH

Vydání

2nd ed. New York, xvi, 408, 2004

Nakladatel

Springer

Další údaje

Označené pro přenos do RIV

ISBN

1441923071

Změněno: 23. 2. 2026 05:40, Záznam byl importován z knihovního systému.

PIETSCH, Ullrich; Václav HOLÝ a Tilo BAUMBACH. High-resolution X-ray scattering : from thin films to lateral nanostructures. 2nd ed. New York: Springer, 2004, xvi, 408. ISBN 1441923071.

@article{,
   author = {Pietsch, Ullrich and Holý, Václav and Baumbach, Tilo},
   address = {New York},
   edition = {2nd ed.},
   location = {New York},
   isbn = {1441923071},
   publisher = {Springer},
   title = {High-resolution X-ray scattering : from thin films to lateral nanostructures},
   year = {2004}
}

TY  - JOUR
AU  - Pietsch, Ullrich - Holý, Václav - Baumbach, Tilo
PY  - 2004
TI  - High-resolution X-ray scattering : from thin films to lateral nanostructures
PB  - Springer
CY  - New York
SN  - 1441923071
ER  -

PIETSCH, Ullrich; Václav HOLÝ a Tilo BAUMBACH. \textit{High-resolution X-ray scattering : from thin films to lateral nanostructures}. 2nd ed. New York: Springer, 2004, xvi, 408. ISBN~1441923071.