2008
Interdiffusion in SiGe alloys with Ge contents of 25% and 50% studied by x-ray reflectivity
MEDUŇA, Mojmír, Jiří NOVÁK, Günther BAUER, Claudiu FALUB, Detlev GRÜTZMACHER et. al.Základní údaje
Originální název
Interdiffusion in SiGe alloys with Ge contents of 25% and 50% studied by x-ray reflectivity
Název česky
Interdifúze v SiGe slitinách s obsahem Ge 25% a 50% studovaná pomocí rtg reflexe
Autoři
MEDUŇA, Mojmír (203 Česká republika, garant), Jiří NOVÁK (203 Česká republika), Günther BAUER (40 Rakousko), Claudiu FALUB (642 Rumunsko) a Detlev GRÜTZMACHER (276 Německo)
Vydání
Physica stat.sol.(a), 2008, 1862-6300
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Článek v odborném periodiku
Obor
10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele
Německo
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Impakt faktor
Impact factor: 1.205
Kód RIV
RIV/00216224:14310/08:00027766
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
UT WoS
000260438800030
Klíčová slova anglicky
interdiffusion; x-ray diffraction; multilayers
Štítky
Příznaky
Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 25. 3. 2010 14:19, Mgr. Mojmír Meduňa, Ph.D.
V originále
We have investigated SiGe/Si multilayers annealed in-situ at temperatures in the range 600-700 C by x-ray diffraction.
Česky
Studovali jsme SiGe/Si multivrstvy žíhané in-situ při teplotách v rozsahu 600-700 C pomocí rtg difrakce.
Návaznosti
| MSM0021622410, záměr |
|