2009
X-Ray Reflectivity by Rough Multilayers
BAUMBACH, Tilo a Petr MIKULÍKZákladní údaje
Originální název
X-Ray Reflectivity by Rough Multilayers
Název česky
Rtg reflektivita na drsných multivrstvách
Autoři
BAUMBACH, Tilo (276 Německo) a Petr MIKULÍK (203 Česká republika, garant)
Vydání
Berlin, X-Ray and Neutron Reflectivity: Principles and Applications, s. 235-288, Lecture Notes in Physics: 770, 2009
Nakladatel
Springer
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Kapitola resp. kapitoly v odborné knize
Obor
10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele
Německo
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Odkazy
Kód RIV
RIV/00216224:14310/09:00036740
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
ISBN
978-3-540-88587-0
Klíčová slova česky
rtg reflektivita; multivrstvy; drsnost; mřížky
Klíčová slova anglicky
x-ray reflectivity; multilayers; roughness; gratings
Příznaky
Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 1. 10. 2009 17:47, doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D.
V originále
A review of specular and non-specular X-ray reflectivity technique for solid multilayers.
Česky
Přehledový článek o zrcadlové a nezrcadlové rtg reflexi na multivrstvách.
Návaznosti
MSM0021622410, záměr |
|