OHLÍDAL, Ivan, František VIŽĎA a Miloslav OHLÍDAL. Optical analysis by means of spectroscopic reflectometry of single and double layers with correlated randomly rough boundaries. Optical Engineering. 1995, roč. 34, č. 6, s. 1761-1768. ISSN 0091-3286.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Optical analysis by means of spectroscopic reflectometry of single and double layers with correlated randomly rough boundaries
Název česky Optická analýza pomocí spektroskopické reflektometrie jenoduchých a dvojitých vrstev s korelovanými náhodnými rozhraními
Autoři OHLÍDAL, Ivan, František VIŽĎA a Miloslav OHLÍDAL.
Vydání Optical Engineering, 1995, 0091-3286.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10306 Optics
Stát vydavatele Velká Británie a Severní Irsko
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
Klíčová slova česky odrazivost jenoduchých a dvojitých vrstev; drsnost rozhraní vrstev; korelace rozhraní
Klíčová slova anglicky reflectance of single and double layers; roughness of boundaries of layers; correlation of boundaries
Příznaky Mezinárodní význam, Recenzováno
Změnil Změnil: Mgr. David Nečas, Ph.D., učo 19972. Změněno: 27. 1. 2013 11:39.
Anotace
Optical analysis of rough single and double layers is performed by interpreting the spectral dependences of the measured coherent reflectance. Formulas for the coherent reflectance of these systems derived within the scalar theory of diffraction of light are used for this interpretation. Possibilities and limitations of the method utilized are illustrated using several concrete samples of both the rough single and double layers represented by models corresponding to fully correlated (identical), partially correlated, and fully uncorrelated boundaries. It is shown that the values of the optical parameters, the root-mean-square (rms) values of the heights of the boundary irregularities and the values of the cross-correlation coefficients of the boundaries characterizing the layered systems mentioned can be determined within the method described.
Návaznosti
GA101/94/0555, projekt VaVNázev: Měření povrchové drsnosti z úhlové korelace polí koherenční zrnitosti
Investor: Grantová agentura ČR, Měření povrchové drsnosti z úhlové korelace polí koherenční zrnitosti
VytisknoutZobrazeno: 19. 9. 2024 03:25