Very Low Energy Scanning Electron Microscopy of Free-Standing Ultrathin Films

MÜLLEROVÁ, Ilona; Miloš HOVORKA; Renáta HANZLÍKOVÁ a Luděk FRANK. Very Low Energy Scanning Electron Microscopy of Free-Standing Ultrathin Films. Materials Transactions. Japonsko: The Japan Institute of Metals, 2010, roč. 51, č. 2, s. 265-270. ISSN 1345-9678.

Základní údaje

Originální název

Very Low Energy Scanning Electron Microscopy of Free-Standing Ultrathin Films

Autoři

MÜLLEROVÁ, Ilona; Miloš HOVORKA; Renáta HANZLÍKOVÁ a Luděk FRANK

Vydání

Materials Transactions, Japonsko, The Japan Institute of Metals, 2010, 1345-9678

---

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10302 Condensed matter physics

Stát vydavatele

Česká republika

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Odkazy

URL

Impakt faktor

Impact factor: 0.787

Označené pro přenos do RIV

Ne

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

UT WoS

000276538900014

Klíčová slova anglicky

low energy scanning electron microscopy, thin foils, transmission of very slow electrons

Příznaky

Mezinárodní význam, Recenzováno

---

Anotace

V originále

Instrument and methodology is presented for very low energy scanning transmission electron microscopy. The detector system provides simultaneous acquisitions of total reflected and transmitted electron fluxes. Introductory experiments incorporated examination of ultrathin foils of gold, carbon and graphene flakes. Extremely sensitive thickness contrast obtained at units of eV is demonstrated. The phenomenon of electron transmissivity apparently exceeding 100% owing to the contribution of secondary electrons released near to the exit surface is described and discussed.