J 2011

Infrared resonances of local fields and ellipsometric spectra of negative-refraction metamaterials

HUMLÍČEK, Josef

Základní údaje

Originální název

Infrared resonances of local fields and ellipsometric spectra of negative-refraction metamaterials

Autoři

HUMLÍČEK, Josef (203 Česká republika, garant, domácí)

Vydání

Thin Solid Films, Elsevier, 2011, 0040-6090

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10302 Condensed matter physics

Stát vydavatele

Švýcarsko

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Impakt faktor

Impact factor: 1.890

Kód RIV

RIV/00216224:14310/11:00053212

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

DOI

UT WoS

000289174200019

Klíčová slova anglicky

Ellipsometry; Infrared; Metamaterials

Štítky

Změněno: 6. 1. 2014 13:26, prof. RNDr. Josef Humlíček, CSc.

Anotace

V originále

Suitable combinations of the optical response and geometrical form of flat or curved interfaces of the constituents in nanometer-sized metamaterials can lead to a strong enhancement of local fields, seen typically as sharp spectral resonances in optical spectra. We propose a classification of the resonant phenomena in inhomogeneous systems within the effective-medium approximation, and examine their manifestation in infrared ellipsometry. We report mid-infrared ellipsometric spectra of a doped semiconductor metamaterial, exhibiting negative refraction. We provide a simple explanation for the difference in the directions of the phase- and energy propagation. The resonance responsible for a strong anisotropy and the interesting behavior of refracted light is found to lead to characteristic features in the ellipsometric spectra.

Návaznosti

MSM0021622410, záměr
Název: Fyzikální a chemické vlastnosti pokročilých materiálů a struktur
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální a chemické vlastnosti pokročilých materiálů a struktur