2011
Oxygen precipitation studied by x-ray diffraction techniques
MEDUŇA, Mojmír, Ondřej CAHA, Jiří RŮŽIČKA, Silvie BERNATOVÁ, Milan SVOBODA et. al.Základní údaje
Originální název
Oxygen precipitation studied by x-ray diffraction techniques
Autoři
MEDUŇA, Mojmír (203 Česká republika, garant, domácí), Ondřej CAHA (203 Česká republika, domácí), Jiří RŮŽIČKA (203 Česká republika, domácí), Silvie BERNATOVÁ (203 Česká republika, domácí), Milan SVOBODA (203 Česká republika) a Jiří BURŠÍK (203 Česká republika)
Vydání
Solid State Phenomena, Trans Tech Publications, 2011, 1012-0394
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Článek v odborném periodiku
Obor
10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele
Švýcarsko
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Impakt faktor
Impact factor: 0.493 v roce 2005
Kód RIV
RIV/00216224:14740/11:00050319
Organizační jednotka
Středoevropský technologický institut
UT WoS
000303356300052
Klíčová slova česky
Czochralského křemík; kyslíkové precipitáty; rtg Laueho difrakce
Klíčová slova anglicky
Czochralski silicon; oxygen precipitates; x-ray Laue diffraction
Štítky
Příznaky
Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 4. 4. 2014 17:15, Mgr. Mojmír Meduňa, Ph.D.
V originále
We report on study of oxygen precipitates grown in Czochralski silicon wafers investigated by x-ray diffraction in Bragg reflection geometry and Laue transmission geometry.
Česky
Cílem práce bylo studium kyslíkových precipitátů vyrostlých uvnitř desek Czochralského křemíku pomocí rtg difrakce v Braggově a Laueho geometrii na průchod.
Návaznosti
ED1.1.00/02.0068, projekt VaV |
| ||
GA202/09/1013, projekt VaV |
| ||
GP202/09/P410, projekt VaV |
| ||
MSM0021622410, záměr |
| ||
MUNI/A/1047/2009, interní kód MU |
|