Micro-imaging performance of multilayers used as monochromators for coherent hard X-ray synchrotron radiation

RACK, A., T. WEITKAMP, M. RIOTTE, T. RACK, R. DIETSCH, T. HOLZ, M. KRÄMER, F. SIEWERT, Mojmír MEDUŇA, Ch. MORAWE, P. CLOETENS a E. ZIEGLER. Micro-imaging performance of multilayers used as monochromators for coherent hard X-ray synchrotron radiation. Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering. 2010, Neuveden, č. 7802, s. "nestánkováno", 7 s. ISSN 0277-786X. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1117/12.858355.

Základní údaje

• Originální název: Micro-imaging performance of multilayers used as monochromators for coherent hard X-ray synchrotron radiation
• Název česky: Výkon mikrozobrazování multivrstev používaných jako monochromátorů pro koherentní tvrdé synchrotronové záření
• Autoři: RACK, A. (276 Německo), T. WEITKAMP (276 Německo), M. RIOTTE (276 Německo), T. RACK (276 Německo), R. DIETSCH (276 Německo), T. HOLZ (276 Německo), M. KRÄMER (276 Německo), F. SIEWERT (276 Německo), Mojmír MEDUŇA (203 Česká republika, garant, domácí), Ch. MORAWE (276 Německo), P. CLOETENS (276 Německo) a E. ZIEGLER (276 Německo).
• Vydání: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2010, 0277-786X.

Další údaje

• Originální jazyk: angličtina
• Typ výsledku: Článek v odborném periodiku
• Obor: 10302 Condensed matter physics
• Stát vydavatele: Spojené státy
• Utajení: není předmětem státního či obchodního tajemství
• WWW: URL
• Kód RIV: RIV/00216224:14310/10:00059192
• Organizační jednotka: Přírodovědecká fakulta
• Doi: http://dx.doi.org/10.1117/12.858355
• UT WoS: 000285830000015
• Klíčová slova česky: koherence, multivrstevnatá zrcadla, synchrotronové záření, rtg zobrazování, rtg monochromátory, rtg optika, rtg fázová kontrast
• Klíčová slova anglicky: Coherence; Multilayer mirrors; Synchrotron radiation; X-ray imaging; X-ray monochromators; X-ray optics; X-ray phase contrast
• Štítky: AKR, rivok
• Příznaky: Mezinárodní význam

Anotace

We present a systematic study in which multilayers of different composition (W/Si, Mo/Si, Pd/B4C), periodicity (from 2.5 to 5.5 nm), and numbers of layers have been characterised.

Anotace česky

Prezentujeme systematickou studii ve které byly charakterizovány multivrstvy s různým složením (W/Si, Mo/Si, Pd/B4C), periodou (od 2.5 do 5.5 nm) a množstvím vrstev.

Návaznosti

• MSM0021622410, záměr: Název: Fyzikální a chemické vlastnosti pokročilých materiálů a struktur

Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální a chemické vlastnosti pokročilých materiálů a struktur