Micro-imaging performance of multilayers used as monochromators
for coherent hard X-ray synchrotron radiation

J 2010

Micro-imaging performance of multilayers used as monochromators for coherent hard X-ray synchrotron radiation

RACK, A., T. WEITKAMP, M. RIOTTE, T. RACK, R. DIETSCH et. al.

Základní údaje

Originální název

Micro-imaging performance of multilayers used as monochromators for coherent hard X-ray synchrotron radiation

Název česky

Výkon mikrozobrazování multivrstev používaných jako monochromátorů pro koherentní tvrdé synchrotronové záření

Autoři

RACK, A. (276 Německo), T. WEITKAMP (276 Německo), M. RIOTTE (276 Německo), T. RACK (276 Německo), R. DIETSCH (276 Německo), T. HOLZ (276 Německo), M. KRÄMER (276 Německo), F. SIEWERT (276 Německo), Mojmír MEDUŇA (203 Česká republika, garant, domácí), Ch. MORAWE (276 Německo), P. CLOETENS (276 Německo) a E. ZIEGLER (276 Německo)

Vydání

Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2010, 0277-786X

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10302 Condensed matter physics

Stát vydavatele

Spojené státy

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Odkazy

URL

Kód RIV

RIV/00216224:14310/10:00059192

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

DOI

http://dx.doi.org/10.1117/12.858355

UT WoS

000285830000015

Klíčová slova česky

koherence, multivrstevnatá zrcadla, synchrotronové záření, rtg zobrazování, rtg monochromátory, rtg optika, rtg fázová kontrast

Klíčová slova anglicky

Coherence; Multilayer mirrors; Synchrotron radiation; X-ray imaging; X-ray monochromators; X-ray optics; X-ray phase contrast

Štítky

AKR, rivok

Příznaky

Mezinárodní význam

Změněno: 12. 4. 2013 12:12, Ing. Andrea Mikešková

Anotace

ORIG CZ

V originále

We present a systematic study in which multilayers of different composition (W/Si, Mo/Si, Pd/B4C), periodicity (from 2.5 to 5.5 nm), and numbers of layers have been characterised.

Česky

Prezentujeme systematickou studii ve které byly charakterizovány multivrstvy s různým složením (W/Si, Mo/Si, Pd/B4C), periodou (od 2.5 do 5.5 nm) a množstvím vrstev.

Návaznosti

MSM0021622410, záměr

Název: Fyzikální a chemické vlastnosti pokročilých materiálů a struktur

Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální a chemické vlastnosti pokročilých materiálů a struktur

Citovat

RACK, A., T. WEITKAMP, M. RIOTTE, T. RACK, R. DIETSCH, T. HOLZ, M. KRÄMER, F. SIEWERT, Mojmír MEDUŇA, Ch. MORAWE, P. CLOETENS a E. ZIEGLER. Micro-imaging performance of multilayers used as monochromators for coherent hard X-ray synchrotron radiation. Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering. 2010, Neuveden, č. 7802, s. "nestánkováno", 7 s. ISSN 0277-786X. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1117/12.858355.

@article{964592,
   author = {Rack, A. and Weitkamp, T. and Riotte, M. and Rack, T. and Dietsch, R. and Holz, T. and Krämer, M. and Siewert, F. and Meduňa, Mojmír and Morawe, Ch. and Cloetens, P. and Ziegler, E.},
   article_number = {7802},
   doi = {http://dx.doi.org/10.1117/12.858355},
   keywords = {Coherence; Multilayer mirrors; Synchrotron radiation; X-ray imaging; X-ray monochromators; X-ray optics; X-ray phase contrast},
   language = {eng},
   issn = {0277-786X},
   journal = {Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering},
   title = {Micro-imaging performance of multilayers used as monochromators for coherent hard X-ray synchrotron radiation},
   url = {http://spiedigitallibrary.org/proceedings/resource/2/psisdg/7802/1/78020M_1?isAuthorized=no},
   volume = {Neuveden},
   year = {2010}
}

TY  - JOUR
ID  - 964592
AU  - Rack, A. - Weitkamp, T. - Riotte, M. - Rack, T. - Dietsch, R. - Holz, T. - Krämer, M. - Siewert, F. - Meduňa, Mojmír - Morawe, Ch. - Cloetens, P. - Ziegler, E.
PY  - 2010
TI  - Micro-imaging performance of multilayers used as monochromators for coherent hard X-ray synchrotron radiation
JF  - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
VL  - Neuveden
IS  - 7802
SP  - "nestánkováno"
EP  - "nestánkováno"
SN  - 0277786X
KW  - Coherence
KW  - Multilayer mirrors
KW  - Synchrotron radiation
KW  - X-ray imaging
KW  - X-ray monochromators
KW  - X-ray optics
KW  - X-ray phase contrast
UR  - http://spiedigitallibrary.org/proceedings/resource/2/psisdg/7802/1/78020M_1?isAuthorized=no
N2  - We present a systematic study in which multilayers of different composition (W/Si, Mo/Si, Pd/B4C), periodicity (from 2.5 to 5.5 nm), and numbers of layers have been characterised.
ER  -

RACK, A., T. WEITKAMP, M. RIOTTE, T. RACK, R. DIETSCH, T. HOLZ, M. KRÄMER, F. SIEWERT, Mojmír MEDUŇA, Ch. MORAWE, P. CLOETENS a E. ZIEGLER. Micro-imaging performance of multilayers used as monochromators for coherent hard X-ray synchrotron radiation. \textit{Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering}. 2010, Neuveden, č.~7802, s.~''nestánkováno'', 7 s. ISSN~0277-786X. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1117/12.858355.

Podrobný výpis o publikaci