Masarykova univerzita

Výpis publikací

česky | in English

Filtrování publikací

    2015

    1. Structure and Morphology of Organic Semiconductor-Nanoparticle Hybrids Prepared by Soft Deposition
      BANERJEE, Rupak, Jiří NOVÁK, Christian FRANK, Maria GIRLEANU, Olivier ERSEN, Martin BRINKMANN, Falk ANGER, Christian LORCH, Johannes DIETERLE, Alexander GERLACH, Jakub DRNEC, Sun YU a Frank SCHREIBER. Structure and Morphology of Organic Semiconductor-Nanoparticle Hybrids Prepared by Soft Deposition. JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY C. Washington D.C.: American Chemical Society, 2015, roč. 119, č. 9, s. 5225-5237. ISSN 1932-7447. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1021/acs.jpcc.5b00480.
      URL
      Název česky: Struktura a morfologie hybridních vrstev organického polovodiče s nanočásticemi připravených měkkými depozičními technikami
      RIV/00216224:14740/15:00082723 Článek v odborném periodiku. Fyzika pevných látek a magnetismus. angličtina. Spojené státy.
      Banerjee, Rupak (356 Indie) -- Novák, Jiří (203 Česká republika, garant, domácí) -- Frank, Christian (276 Německo) -- Girleanu, Maria (642 Rumunsko) -- Ersen, Olivier (250 Francie) -- Brinkmann, Martin (250 Francie) -- Anger, Falk (276 Německo) -- Lorch, Christian (276 Německo) -- Dieterle, Johannes (276 Německo) -- Gerlach, Alexander (276 Německo) -- Drnec, Jakub (203 Česká republika) -- Yu, Sun (156 Čína) -- Schreiber, Frank (276 Německo)
      Klíčová slova anglicky: hybrid thin films; organic semiconductors; nano-particles; spin-casting; organic molecular beam-deposition; structure; morphology; GISAXS; GIXRD; X-ray reflectivity; TEM; AFM; photoluminiscence
      Mezinárodní význam: ano
      Recenzováno: ano
      Změnila: Martina Prášilová, učo 342282. Změněno: 23. 6. 2015 12:16.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/1298031/cs

    2008

    1. Photoelectron spectroscopy from randomly corrugated surfaces
      ZEMEK, Josef, Kamil OLEJNÍK a Petr KLAPETEK. Photoelectron spectroscopy from randomly corrugated surfaces. Surface science. Amsterdam: Elsevier, 2008, roč. 602, č. 7, s. 1440-1446. ISSN 0039-6028.
      Název česky: Fotoelektronová spektroskopie náhodně drsných povrchů
      Název anglicky: Photoelectron spectroscopy from randomly corrugated surfaces
      RIV/00216224:14310/08:00028408 Článek v odborném periodiku. Fyzika pevných látek a magnetismus. angličtina. Česká republika.
      Zemek, Josef (203 Česká republika) -- Olejník, Kamil (203 Česká republika) -- Klapetek, Petr (203 Česká republika, garant)
      Klíčová slova anglicky: X-ray photoelectron spectroscopy; Surface roughness; Random surface roughness; AFM; Monte Carlo calculation; Overlayer thickness estimation
      Mezinárodní význam: ano
      Recenzováno: ano
      Změnil: Mgr. Miroslav Valtr, Ph.D., učo 13715. Změněno: 4. 7. 2009 18:26.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/769965/cs
    2. Size, shape and surface morphology of starch granules from Norway spruce needles revealed by transmission electron microscopy and atomic force microscopy: effects of elevated CO2 concentration
      CABÁLKOVÁ, Jana, Jan PŘIBYL, Petr SKLÁDAL, Pavel KULICH a Josef CHMELÍK. Size, shape and surface morphology of starch granules from Norway spruce needles revealed by transmission electron microscopy and atomic force microscopy: effects of elevated CO2 concentration. Tree Physiology. Victoria, Kanada: Heron Publishing, 2008, roč. 28, č. 10, s. 1593-1599. ISSN 0829-318X.
      URL
      Název česky: Velikost, tvar a povrchová morfologie škrobových zrn z jehliček smrku obecného dle transmisní elektronové mikroskopie a mikroskopie atomových sil: vliv zvýšené koncentrace CO2
      RIV/00216224:14310/08:00026653 Článek v odborném periodiku. Biochemie. angličtina. Kanada.
      Cabálková, Jana (203 Česká republika) -- Přibyl, Jan (203 Česká republika) -- Skládal, Petr (203 Česká republika, garant) -- Kulich, Pavel (203 Česká republika) -- Chmelík, Josef (203 Česká republika)
      Klíčová slova anglicky: AFM; Picea abies; starch granules; TEM
      Mezinárodní význam: ano
      Recenzováno: ano
      Změnil: prof. RNDr. Petr Skládal, CSc., učo 2202. Změněno: 29. 6. 2009 16:27.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/788775/cs

    2007

    1. Comparative study on several micro and nanoindentation techniques including AFM
      DUŠEK, Jiří, Vilma BURŠÍKOVÁ, Vladislav NAVRÁTIL, Jiří BURŠÍK, Olga BLÁHOVÁ a Petr KLAPETEK. Comparative study on several micro and nanoindentation techniques including AFM. In NANO ´06. Brno: University of Technology, Faculty of Mechanical Engineering and COMTES FHT, Ltd., Plzeň, 2007, s. 30-30. ISBN 80-214-3331-0.
      Název česky: Srovnávací studie měření mikro a nanotvrdosti, včetně AFM
      Název anglicky: Comparative study on several micro and nanoindentation techniques including AFM
      Fyzika pevných látek a magnetismus. angličtina. Česká republika.
      Klíčová slova anglicky: nanoindentation; continuous stiffness measurement; AFM
      Recenzováno: ano
      Změnila: doc. RNDr. Vilma Buršíková, Ph.D., učo 2418. Změněno: 5. 9. 2008 08:52.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/745180/cs
    2. The instrumented indentation test - powerful tool in development of new materials
      BURŠÍKOVÁ, Vilma, Olga BLÁHOVÁ, Lenka ZAJÍČKOVÁ, Marek ELIÁŠ, Ondřej JAŠEK, Monika KARÁSKOVÁ, A. BOUSQUET, Jiří BURŠÍK a Petr KLAPETEK. The instrumented indentation test - powerful tool in development of new materials. In LMV 2006 Možnosti aplikace výsledků měření. Plzeň: Západočeská univerzita v Plzni, 2007, s. 36-43. ISBN 80-7043-512-7.
      Název česky: Indentační zkouška - mocný nástroj při vývoji nových materálů
      Název anglicky: The instrumented indentation test - powerful tool in development of new materials
      Fyzika pevných látek a magnetismus. angličtina. Česká republika.
      Klíčová slova anglicky: nano indentation;mechanical properties;AFM
      Druh sborníku: postkonferenční sborník
      Recenzováno: ano
      Změnila: doc. RNDr. Vilma Buršíková, Ph.D., učo 2418. Změněno: 11. 4. 2010 13:00.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/755461/cs
    3. 50 Hz magnetic field effect on the morphology of bacteria
      FOJT, Lukáš, Luděk STRAŠÁK a Vladimír VETTERL. 50 Hz magnetic field effect on the morphology of bacteria. In BES 2007 Toulouse, Book of Abstracts. Toulouse: The Bioelectrochemical Society, 2007, s. 150.
      Název česky: Efekt 50 Hz magnetického pole na bakteriální morfologii
      Název anglicky: 50 Hz magnetic field effect on the morphology of bacteria
      Biofyzika. angličtina. Česká republika.
      Klíčová slova anglicky: bacteria; morphology; AFM
      Druh sborníku: postkonferenční sborník
      Mezinárodní význam: ano
      Recenzováno: ano
      Změnil: Mgr. Lukáš Fojt, Ph.D., učo 16561. Změněno: 18. 1. 2008 15:09.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/749676/cs

    2006

    1. Application of Surface Barrier Discharge for deposition of Protective Coatings and Plasma Activation of Surfaces
      SŤAHEL, Pavel, Vilma BURŠÍKOVÁ, Antonín BRABLEC, Zdeněk NAVRÁTIL, Martin ŠÍRA a Jan JANČA. Application of Surface Barrier Discharge for deposition of Protective Coatings and Plasma Activation of Surfaces. In 7th International Balkan Workshop on Applied Physics - Abstracts. 1. vyd. Constanta, Romania: Ovidius University, 2006, s. 102-102. ISBN 978-973-614-314-4.
      Název česky: Application of Surface Aplikace povrchového bariérového výboje pro depozici ochranných vrstev a pro aktivaci povrchů plazmatem
      Název anglicky: Application of Surface Barrier Discharge for deposition of Protective Coatings and Plasma Activation of Surfaces
      RIV/00216224:14310/06:00015922 Stať ve sborníku. Fyzika plasmatu a výboje v plynech. angličtina. Rumunsko.
      Sťahel, Pavel (203 Česká republika, garant) -- Buršíková, Vilma (203 Česká republika) -- Brablec, Antonín (203 Česká republika) -- Navrátil, Zdeněk (203 Česká republika) -- Šíra, Martin (203 Česká republika) -- Janča, Jan (203 Česká republika)
      Klíčová slova anglicky: Surface Barrier Discharge; deposition; Protective Coatings; Surface treatments; AFM; surface free energy
      Změnila: doc. RNDr. Vilma Buršíková, Ph.D., učo 2418. Změněno: 31. 3. 2010 19:02.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/699218/cs
    2. Characterization of polymer thin films deposited on aluminum films by the combined optical method and atomic force microscopy
      FRANTA, Daniel, Ivan OHLÍDAL, Petr KLAPETEK, Růžena NEPUSTILOVÁ a Svatopluk BAJER. Characterization of polymer thin films deposited on aluminum films by the combined optical method and atomic force microscopy. Surface and Interface Analysis. USA: John Wiley & Sons, 2006, roč. 38, č. 4, s. 842-846. ISSN 0142-2421.
      Název česky: Charakterizace polymerních tenkých vrstev deponovaných na hliníkových vrstvách pomocí kombinované optické metody a mikroskopie atomové síly
      RIV/00216224:14310/06:00016537 Článek v odborném periodiku. Fyzika pevných látek a magnetismus. angličtina. Spojené státy.
      Franta, Daniel (203 Česká republika, garant) -- Ohlídal, Ivan (203 Česká republika) -- Klapetek, Petr (203 Česká republika) -- Nepustilová, Růžena (203 Česká republika) -- Bajer, Svatopluk (203 Česká republika)
      Klíčová slova anglicky: ellipsometry; reflectometry; polymer films; AFM
      Změnil: Mgr. Daniel Franta, Ph.D., učo 2000. Změněno: 31. 1. 2007 20:18.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/711185/cs
    3. The instrumented indentation test - powerful tool in development of new materials
      BURŠÍKOVÁ, Vilma. The instrumented indentation test - powerful tool in development of new materials. In Lokální mechanické vlastnosti 2006. 2006.
      Název česky: Indentační zkouška - mocný nástroj při vývoji nových materálů
      Název anglicky: The instrumented indentation test - powerful tool in development of new materials
      RIV/00216224:14310/06:00029051 Prezentace na konferencích. Fyzika pevných látek a magnetismus. angličtina. Česká republika.
      Buršíková, Vilma (203 Česká republika, garant)
      Klíčová slova anglicky: nano indentation;mechanical properties;AFM
      Druh účasti: vyžádaná přednáška
      Změnila: doc. RNDr. Vilma Buršíková, Ph.D., učo 2418. Změněno: 31. 3. 2010 18:53.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/755455/cs

    2005

    1. AFM Study of Hydrocarbon Thin Films
      VALTR, Miroslav, Ivan OHLÍDAL a Petr KLAPETEK. AFM Study of Hydrocarbon Thin Films. In WDS'05 Proceedings of Contributed Papers: Part II - Physics of Plasmas and Ionized Media (ed. J. Safrankova). Praha: Matfyzpress, 2005, s. 391-396. ISBN 80-86732-59-2.
      Název česky: AFM studie uhlíkových tenkých vrstev
      Fyzika plasmatu a výboje v plynech. angličtina. Česká republika.
      Klíčová slova anglicky: plasma;polymer;films;argon;acetylene;pecvd;pulsed;radio frequency;discharge;afm;rough boundary
      Změnil: Mgr. Miroslav Valtr, Ph.D., učo 13715. Změněno: 19. 5. 2009 16:58.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/589066/cs
    2. Application of the wavelet transformation in AFM data analysis
      KLAPETEK, Petr a Ivan OHLÍDAL. Application of the wavelet transformation in AFM data analysis. Acta Physica Slovaca. Bratislava: Institute of Physics, SAS, 2005, roč. 55, č. 3, s. 295-303. ISSN 0323-0465.
      Název česky: Aplikace waveletové transformace při analýze AFM dat
      RIV/00216224:14310/05:00013548 Článek v odborném periodiku. Fyzika pevných látek a magnetismus. angličtina. Slovensko.
      Klapetek, Petr (203 Česká republika) -- Ohlídal, Ivan (203 Česká republika, garant)
      Klíčová slova anglicky: AFM; Wavelet transform
      Změnil: prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc., učo 2397. Změněno: 28. 2. 2006 18:33.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/630336/cs
    3. Atomic Force Microscope Tip Influence on the Fractal and Multi-Fractal Analyses of the Properties of Randomly Rough Surafaces
      KLAPETEK, Petr, Ivan OHLÍDAL a Jindřich BÍLEK. Atomic Force Microscope Tip Influence on the Fractal and Multi-Fractal Analyses of the Properties of Randomly Rough Surafaces. In Nanoscale Calibration Standards and Methods: Dimensional and Related Measurements in the Micro-and Nanometer Range. Weinheim 2005: Wiley-VCH Verlag GmbH and Co. KGaA, 2005, s. 452-462. ISBN 3-527-40502-X.
      Název česky: Vliv hrotu mikroskopu atomové síly na fraktálovou a multi-fraktálovou analýzu vlastností náhodně drsných povrchů
      RIV/00216224:14310/05:00015082 Stať ve sborníku. Fyzika pevných látek a magnetismus. angličtina. Německo.
      Klapetek, Petr (203 Česká republika) -- Ohlídal, Ivan (203 Česká republika, garant) -- Bílek, Jindřich (203 Česká republika)
      Klíčová slova anglicky: AFM
      Změnil: prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc., učo 2397. Změněno: 28. 2. 2006 20:00.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/630345/cs
    4. Atomic force microscopy analysis of morphology of the upper boundaries of GaN thin films prepared by MOCVD
      KLAPETEK, Petr, Ivan OHLÍDAL, Alberto MONTAIGNE RAMIL, Alberta BONNANNI a Helmut SITTER. Atomic force microscopy analysis of morphology of the upper boundaries of GaN thin films prepared by MOCVD. Vacuum. USA: ELSEVIER (PERGAMON), 2005, roč. 80, 1-3, s. 53-57. ISSN 0042-207X.
      Název česky: Analýza morfologie horních rozhraní vrstev GaN připravených pomocí MOCVD s využitím mikroskopie atomové síly
      RIV/00216224:14310/05:00015079 Článek v odborném periodiku. Fyzika pevných látek a magnetismus. angličtina. Velká Británie a Severní Irsko.
      Klapetek, Petr (203 Česká republika) -- Ohlídal, Ivan (203 Česká republika, garant) -- Montaigne Ramil, Alberto (192 Kuba) -- Bonnanni, Alberta (380 Itálie) -- Sitter, Helmut (40 Rakousko)
      Klíčová slova anglicky: Roughness; AFM; GaN films
      Změnil: prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc., učo 2397. Změněno: 28. 2. 2006 17:44.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/630333/cs
    5. Combination of optical methods and atomic force microscopy at characterization of thin film systems
      OHLÍDAL, Ivan, Daniel FRANTA a Petr KLAPETEK. Combination of optical methods and atomic force microscopy at characterization of thin film systems. Acta physica slovaca. Bratislava: Institute of Physics, SAS, 2005, roč. 55, č. 3, s. 271-294. ISSN 0323-0465.
      URL
      Název česky: Kombinace optických metod a mikroskopie atomové síly pro zkoumání systémů tenkých vrstev
      RIV/00216224:14330/05:00013181 Článek v odborném periodiku. Fyzika pevných látek a magnetismus. angličtina. Slovensko.
      Ohlídal, Ivan (203 Česká republika, garant) -- Franta, Daniel (203 Česká republika) -- Klapetek, Petr (203 Česká republika)
      Klíčová slova anglicky: Roughness; Ellipsometry; Spectrophotometry; AFM
      Změnil: RNDr. JUDr. Vladimír Šmíd, CSc., učo 1084. Změněno: 27. 4. 2006 19:52.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/621521/cs
    6. Měření nanodrsnosti pomocí optických metod a mikroskopie atomové síly
      OHLÍDAL, Ivan, Daniel FRANTA a Petr KLAPETEK. Měření nanodrsnosti pomocí optických metod a mikroskopie atomové síly. In Kvalita a GPS 2005. Brno: Subkomise metrologie při TNK 7, 2005, s. 131-139. ISBN 80-214-3033-8.
      URL
      Název anglicky: Measurement of nanoroughness using optical methods and atomic force microscopy
      RIV/00216224:14310/05:00013550 Stať ve sborníku. Fyzika pevných látek a magnetismus. čeština. Česká republika.
      Ohlídal, Ivan (203 Česká republika, garant) -- Franta, Daniel (203 Česká republika) -- Klapetek, Petr (203 Česká republika)
      Klíčová slova anglicky: Drsnost; AFM; Elipsometrie; Odrazivost
      Změnil: prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc., učo 2397. Změněno: 2. 3. 2006 14:42.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/630447/cs
    7. Study of the mechanical properties of thin films using combined nanoindentation and AFM measurements
      BURŠÍKOVÁ, Vilma, Petr KLAPETEK, Angelique BOUSQUET a Marek ELIÁŠ. Study of the mechanical properties of thin films using combined nanoindentation and AFM measurements. Jemná mechanika a optika. Přerov: Physical Institute, ASCR, 2005, roč. 50, 11_12, s. 323-326. ISSN 0447-6441.
      Název česky: Studium mechanických vlastností tenkých vrstev kombinací nanotvrdosti a AFM
      Název anglicky: Study of the mechanical properties of thin films using combined nanoindentation and AFM measurements
      RIV/00216224:14310/05:00012840 Článek v odborném periodiku. Fyzika pevných látek a magnetismus. angličtina. Česká republika.
      Buršíková, Vilma (203 Česká republika, garant) -- Klapetek, Petr (203 Česká republika) -- Bousquet, Angelique (250 Francie) -- Eliáš, Marek (203 Česká republika)
      Klíčová slova anglicky: nanoindentation; AFM; thin films; mechanical properties
      Změnila: doc. RNDr. Vilma Buršíková, Ph.D., učo 2418. Změněno: 12. 12. 2005 18:00.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/593724/cs

    2004

    1. Experimental study of Ni3Al slip traces by atomic force microscopy: an evidence of mobile dislocation exhaustion
      FIKAR, Jan, Christophe COUPEAU, Tomáš KRUML a Joel BONNEVILLE. Experimental study of Ni3Al slip traces by atomic force microscopy: an evidence of mobile dislocation exhaustion. Materials Science and Engineering A. Netherland, 2004, roč. 387-389, č. 1, s. 926-930. ISSN 0921-5093.
      Název česky: Experimentální studie skluzových stop v Ni3Al pomocí AFM: důkaz poklesu hustoty mobilních dislokací
      Název anglicky: Experimental study of Ni3Al slip traces by atomic force microscopy: an evidence of mobile dislocation exhaustion
      RIV/00216224:14310/04:00010993 Článek v odborném periodiku. Fyzika pevných látek a magnetismus. angličtina. Nizozemské království.
      Fikar, Jan (203 Česká republika, garant) -- Coupeau, Christophe (250 Francie) -- Kruml, Tomáš (203 Česká republika) -- Bonneville, Joel (250 Francie)
      Klíčová slova anglicky: AFM; slip traces; cross-slip; Ni3Al; single crystal
      Změnil: Mgr. Jan Fikar, Ph.D., učo 7574. Změněno: 14. 2. 2005 17:21.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/567036/cs
    2. Influence of the atomic force microscope tip on the multifractal analysis of rough surfaces
      KLAPETEK, Petr, Ivan OHLÍDAL a Jindřich BÍLEK. Influence of the atomic force microscope tip on the multifractal analysis of rough surfaces. Ultramicroscopy. Amsterdam: Elsevier, 2004, roč. 102, č. 1, s. 51-59. ISSN 0304-3991.
      Název česky: Vliv
      RIV: Článek v odborném periodiku. Fyzika pevných látek a magnetismus. angličtina. Nizozemské království.
      Klapetek, Petr (203 Česká republika) -- Ohlídal, Ivan (203 Česká republika, garant) -- Bílek, Jindřich (203 Česká republika)
      Klíčová slova anglicky: Roughness; AFM
      Změnil: prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc., učo 2397. Změněno: 15. 8. 2005 18:25.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/574146/cs

    2003

    1. Aplikace mikroskopie atomové síly při analýze tenkých vrstev ZnSe a ZnTe
      OHLÍDAL, Ivan, Petr KLAPETEK a Daniel FRANTA. Aplikace mikroskopie atomové síly při analýze tenkých vrstev ZnSe a ZnTe. Československý časopis pro fyziku. Praha: Fyzikální ústav AV ČR, 2003, roč. 53, č. 2, s. 97-100. ISSN 0009-0700.
      URL
      Název anglicky: Application of Atomic Force Microscopy for Analysis of ZnSe and ZnTe Thin Films
      RIV/00216224:14310/03:00008098 Článek v odborném periodiku. Fyzika pevných látek a magnetismus. čeština. Česká republika.
      Ohlídal, Ivan (203 Česká republika, garant) -- Klapetek, Petr (203 Česká republika) -- Franta, Daniel (203 Česká republika)
      Klíčová slova anglicky: AFM; ZnSe; ZnTe
      Změnil: Mgr. Daniel Franta, Ph.D., učo 2000. Změněno: 25. 12. 2003 01:15.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/487577/cs
    2. Mikroskopie magnetické síly: Aplikace při studiu pevných disků
      ŠILER, Martin, Ivan OHLÍDAL a Petr KLAPETEK. Mikroskopie magnetické síly: Aplikace při studiu pevných disků. Československý časopis pro fyziku. Praha: Fyzikální ústav AV ČR, 2003, roč. 53, č. 2, s. 124-127. ISSN 0009-0700.
      Název anglicky: Magnetic Force Microscopy: Application at study of hard disks
      Optika, masery a lasery. čeština. Česká republika.
      Klíčová slova anglicky: Mikroskopie magnetické síly; Magnetic Force microscopy; MFM; AFM
      Změnil: Mgr. Martin Šiler, Ph.D., učo 14410. Změněno: 6. 11. 2003 15:10.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/489945/cs
    3. Srovnání snímků NSOM a AFM při studiu vybraných objektů
      KLAPETEK, Petr a Ivan OHLÍDAL. Srovnání snímků NSOM a AFM při studiu vybraných objektů. Československý časopis pro fyziku. Praha: Fyzikální ústav AV ČR, 2003, roč. 47, 6-7s, s. 79-81. ISSN 0009-0700.
      Název anglicky: Comparison of NSOM and AFM images of chosen samples
      RIV/00216224:14310/03:00008191 Článek v odborném periodiku. Fyzika pevných látek a magnetismus. čeština. Česká republika.
      Klapetek, Petr (203 Česká republika, garant) -- Ohlídal, Ivan (203 Česká republika)
      Klíčová slova anglicky: NSOM; AFM
      Změnil: Mgr. Petr Klapetek, Ph.D., učo 11111. Změněno: 30. 9. 2003 09:15.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/488940/cs

    2002

    1. Analysis of the boundaries of ZrO2 and HfO2 thin films by atomic force microscopy and the combined optical method
      KLAPETEK, Petr, Ivan OHLÍDAL, Daniel FRANTA a Pavel POKORNÝ. Analysis of the boundaries of ZrO2 and HfO2 thin films by atomic force microscopy and the combined optical method. Surface and Interface Analysis. USA: John Wiley & Sons, 2002, roč. 34, č. 1, s. 559-564. ISSN 0142-2421.
      URL
      RIV/00216224:14310/02:00006294 Článek v odborném periodiku. Fyzika pevných látek a magnetismus. angličtina. Spojené státy.
      Klapetek, Petr (203 Česká republika) -- Ohlídal, Ivan (203 Česká republika, garant) -- Franta, Daniel (203 Česká republika) -- Pokorný, Pavel (203 Česká republika)
      Klíčová slova anglicky: ZrO2 and Hfo2 films; AFM; optical methods; rough upper boundaries
      Změnil: Mgr. Daniel Franta, Ph.D., učo 2000. Změněno: 18. 12. 2003 15:20.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/404727/cs
    2. Characterization of the boundaries of thin films of TiO2 by atomic force microscopy and optical methods
      FRANTA, Daniel, Ivan OHLÍDAL, Petr KLAPETEK a Pavel POKORNÝ. Characterization of the boundaries of thin films of TiO2 by atomic force microscopy and optical methods. Surface and Interface Analysis. USA: John Wiley & Sons, 2002, roč. 34, č. 1, s. 759-762. ISSN 0142-2421.
      URL
      RIV/00216224:14310/02:00007050 Článek v odborném periodiku. Fyzika pevných látek a magnetismus. angličtina. Spojené státy.
      Franta, Daniel (203 Česká republika) -- Ohlídal, Ivan (203 Česká republika, garant) -- Klapetek, Petr (203 Česká republika) -- Pokorný, Pavel (203 Česká republika)
      Klíčová slova anglicky: TiO2 thin films; optical characterization; AFM; boundary roughness
      Změnil: Mgr. Daniel Franta, Ph.D., učo 2000. Změněno: 25. 12. 2003 01:05.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/407667/cs

    2001

    1. Analysis of inhomogeneous thin films of ZrO2 by the combined optical method and atomic force microscopy
      FRANTA, Daniel, Ivan OHLÍDAL, Petr KLAPETEK, Pavel POKORNÝ a Miloslav OHLÍDAL. Analysis of inhomogeneous thin films of ZrO2 by the combined optical method and atomic force microscopy. Surface and Interface Analysis. USA: John Wiley & Sons, 2001, roč. 32, č. 1, s. 91-94. ISSN 0142-2421.
      URL
      RIV/00216224:14310/01:00004374 Článek v odborném periodiku. Fyzika pevných látek a magnetismus. angličtina. Spojené státy.
      Franta, Daniel (203 Česká republika, garant) -- Ohlídal, Ivan (203 Česká republika) -- Klapetek, Petr (203 Česká republika) -- Pokorný, Pavel (203 Česká republika) -- Ohlídal, Miloslav (203 Česká republika)
      Klíčová slova anglicky: inhomogeneous ZrO2 films; optical characterization; AFM
      Změnil: Mgr. Daniel Franta, Ph.D., učo 2000. Změněno: 25. 12. 2003 01:00.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/367252/cs
    2. Determination of Mechanical Properties of Thin Films by the Indentation Techniques
      BURŠÍKOVÁ, Vilma a Vladislav NAVRÁTIL. Determination of Mechanical Properties of Thin Films by the Indentation Techniques. In New Trends in Physics. I. Brno: VUT Brno, Fakulta Elektrotechniky a Informatiky, 2001, s. 333-338. ISBN 80-214-1992-X.
      RIV/00216224:14310/01:00004669 Stať ve sborníku. Fyzika pevných látek a magnetismus. angličtina. Česká republika.
      Buršíková, Vilma (203 Česká republika, garant) -- Navrátil, Vladislav (203 Česká republika)
      Klíčová slova anglicky: thin films; mechanical properties; DSI-test; nanoindentation; AFM
      Mezinárodní význam: ano
      Recenzováno: ano
      Změnil: prof. RNDr. Vladislav Navrátil, CSc., učo 129. Změněno: 26. 10. 2006 14:33.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/376371/cs
    3. Study of Thin Film Defects by Atomic Force Microscopy
      KLAPETEK, Petr, Daniel FRANTA a Ivan OHLÍDAL. Study of Thin Film Defects by Atomic Force Microscopy. In Proceedings of the 4th Seminar on Quantitative Microscopy and 1st Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods. Braunschweig: Physikalisch-Technische Bundesanstalt, 2001, s. 107-117. ISBN 3-89701-840-3.
      URL
      Název česky: Studium defektů tenkých vrstev pomocí mikroskopu atomové síly
      RIV/00216224:14310/01:00008554 Stať ve sborníku. Fyzika pevných látek a magnetismus. angličtina. Německo.
      Klapetek, Petr (203 Česká republika) -- Franta, Daniel (203 Česká republika, garant) -- Ohlídal, Ivan (203 Česká republika)
      Klíčová slova anglicky: AFM
      Změnil: Mgr. Daniel Franta, Ph.D., učo 2000. Změněno: 25. 12. 2003 00:49.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/401791/cs

    2000

    1. RTG reflexe laterálních struktur SiGe
      MEDUŇA, Mojmír, Václav HOLÝ, Josef KUBĚNA, Julian STANGL, Gunter BAUER, Jian-hong ZHU a Karl BRUNNER. RTG reflexe laterálních struktur SiGe. In 13. konference slovenských a českých fyzikov. Zvolen: Slovenská fyzikálna spoločnosť, 2000, s. 237-239. ISBN 80-228-0876-8.
      Název anglicky: X-ray reflection on lateral structures SiGe
      RIV/00216224:14310/00:00002224 Stať ve sborníku. Fyzika pevných látek a magnetismus. čeština. Slovensko.
      Meduňa, Mojmír (203 Česká republika, garant) -- Holý, Václav (203 Česká republika) -- Kuběna, Josef (203 Česká republika)
      Klíčová slova anglicky: SiGe; self-assembled structures; x-ray scattering; AFM
      Změnil: Mgr. Mojmír Meduňa, Ph.D., učo 7898. Změněno: 14. 2. 2007 09:51.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/257711/cs
Zobrazeno: 21. 10. 2024 02:05