Filtrování

    2008

    1. Diffuse x-ray scattering from statistically inhomogeneous distributions of threading dislocations beyond the ergodic hypothesis
      HOLÝ, Václav; T. BAUMBACH; D. LÜBBERT; L. HELFEN; M. ELLYAN; Petr MIKULÍK; S. KELLER; S.P. DENBAARS a J. SPECK. Diffuse x-ray scattering from statistically inhomogeneous distributions of threading dislocations beyond the ergodic hypothesis. Physical Review B. USA: The American Physical Society, 2008, roč. 77, č. 1, s. 094102-94110. ISSN 1098-0121.
      URL
      Název česky: Difúzní rtg rozptyl na statisticky nehomogenním rozložení dislokací
      RIV/00216224:14310/08:00025951 Článek v odborném periodiku. Fyzika pevných látek a magnetismus. angličtina. Spojené státy.
      Holý, Václav (203 Česká republika) -- Baumbach, T. (276 Německo) -- Lübbert, D. (276 Německo) -- Helfen, L. (276 Německo) -- Ellyan, M. (275 Palestina) -- Mikulík, Petr (203 Česká republika, garant) -- Keller, S. (840 Spojené státy) -- DenBaars, S.P. (840 Spojené státy) -- Speck, J. (840 Spojené státy)
      Klíčová slova anglicky: X-ray diffraction; X-ray topography; Microdiffraction; Rocking curve imaging; Dislocations; GaN
      Mezinárodní význam: ano
      Recenzováno: ano
      Změnil: doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D., učo 855. Změněno: 12. 4. 2010 13:01.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/766892/cs
    2. Microdiffraction imaging of dislocation densities in microstructured samples
      LÜBBERT, D.; T. BAUMBACH; Václav HOLÝ; Petr MIKULÍK; L. HELFEN; P. PERNOT; M. ELLYAN; S. KELLER; T.M. KATONA; S.P. DENBAARS a J. SPECK. Microdiffraction imaging of dislocation densities in microstructured samples. Europhysics Letters. Paríž: European Physical Society, 2008, roč. 82, č. 5, s. 56002-56006. ISSN 0295-5075.
      URL
      Název česky: Mikrodifrakční zobrazování hustoty dislokaci v mikrostrukturních vzorcích
      RIV/00216224:14310/08:00026031 Článek v odborném periodiku. Fyzika pevných látek a magnetismus. angličtina. Velká Británie a Severní Irsko.
      Lübbert, D. (276 Německo) -- Baumbach, T. (276 Německo) -- Holý, Václav (203 Česká republika) -- Mikulík, Petr (203 Česká republika, garant) -- Helfen, L. (276 Německo) -- Pernot, P. (203 Česká republika) -- Ellyan, M. (275 Palestina) -- Keller, S. (840 Spojené státy) -- Katona, T.M. (840 Spojené státy) -- DenBaars, S.P. (840 Spojené státy) -- Speck, J. (840 Spojené státy)
      Klíčová slova anglicky: X-ray diffraction; X-ray topography; Microdiffraction; Rocking curve imaging; Dislocations; GaN
      Mezinárodní význam: ano
      Recenzováno: ano
      Změnil: doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D., učo 855. Změněno: 10. 7. 2009 10:22.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/768530/cs

    2006

    1. Crystallite misorientation analysis in semiconductor wafers and ELO samples by rocking curve imaging
      MIKULÍK, Petr; D. LÜBBERT; P. PERNOT; L. HELFEN a T. BAUMBACH. Crystallite misorientation analysis in semiconductor wafers and ELO samples by rocking curve imaging. Applied Surface Science. USA: ELSEVIER (NORTH-HOLLAND), 2006, roč. 253, č. 1, s. 188-193. ISSN 0169-4332.
      URL
      Název česky: Charakterizace rozorientace krystalitů v polovodičových deskách a ELO vzorcích metodou zobrazení rocking křivek
      RIV/00216224:14310/06:00017520 Článek v odborném periodiku. Fyzika pevných látek a magnetismus. angličtina. Německo.
      Mikulík, Petr (203 Česká republika, garant) -- Lübbert, D. (276 Německo) -- Pernot, P. (203 Česká republika) -- Helfen, L. (276 Německo) -- Baumbach, T. (276 Německo)
      Klíčová slova anglicky: X-ray diffraction; X-ray topography; Microdiffraction; Crystal growth; Microstructure; GaAs; GaN
      Mezinárodní význam: ano
      Recenzováno: ano
      Změnil: doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D., učo 855. Změněno: 12. 2. 2007 18:35.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/700659/cs