-
A pitfall in the calculation of higher order aberrations J - Článek v odborném periodikuLENCOVÁ, Bohumila; Michal LENC a Peter W. HAWKES. A pitfall in the calculation of higher order aberrations. Ultramicroscopy. Amsterdam: Elsevier, 2008, roč. 108, č. 8, s. 737-740. ISSN 0304-3991.Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/770482/cs
-
Aberration integrals for the low-voltage foil corrector J - Článek v odborném periodikuAKEN, Rogier van; Michal LENC a James BARTH. Aberration integrals for the low-voltage foil corrector. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research A. Elsevier B.V., 2004, A 519, 1-2, s. 205-215. ISSN 0168-9002.Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/492839/cs