2004
Aberration integrals for the low-voltage foil corrector
AKEN, Rogier van; Michal LENC a James BARTHZákladní údaje
Originální název
Aberration integrals for the low-voltage foil corrector
Název česky
Aberační integrály pro nízkonapěťový foliový korektor
Autoři
AKEN, Rogier van; Michal LENC a James BARTH
Vydání
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research A, Elsevier B.V. 2004, 0168-9002
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Článek v odborném periodiku
Obor
10301 Atomic, molecular and chemical physics
Stát vydavatele
Nizozemské království
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Impakt faktor
Impact factor: 1.349
Označené pro přenos do RIV
Ano
Kód RIV
RIV/00216224:14310/04:00009925
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
UT WoS
Klíčová slova anglicky
Spherical aberration; Aberration integrals; Electron microscopy
Změněno: 25. 6. 2009 07:30, prof. RNDr. Michal Lenc, Ph.D.
V originále
The theory for the calculation of the aberrations of the low-voltage foil corrector is developed.
Česky
Teoretický popis nízkonapěťového foliového korektoru pro elektronovou mikroskopii.
Návaznosti
| MSM 143100006, záměr |
|