Výpis publikací

2008

1. Characterization of near field optical microscope probes

   KLAPETEK, Petr, Miroslav VALTR, Petr KLENOVSKÝ a Jiří BURŠÍK. Characterization of near field optical microscope probes. Surface and Interface Analysis. USA: John Wiley & Sons., 2008, roč. 40, č. 1, s. 482-485. ISSN 0142-2421.

   Název česky: Charakterizace sond do mikroskopu blízkého pole
   RIV/00216224:14310/08:00025409 Článek v odborném periodiku. Optika, masery a lasery. angličtina. Česká republika.
   Klapetek, Petr (203 Česká republika, garant) -- Valtr, Miroslav (203 Česká republika) -- Klenovský, Petr (203 Česká republika) -- Buršík, Jiří (203 Česká republika)
   Klíčová slova anglicky: near field scanning optical microscopy;image artefacts;optical analysis
   Mezinárodní význam: ano
   Recenzováno: ano
   Změnil: Mgr. Petr Klenovský, Ph.D., učo 105957. Změněno: 21. 11. 2010 11:36.

   Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/769971/cs