Výpis publikací

2004

1. In situ analysis of PMPSi by spectroscopic ellipsometry and XPS

   ČECHAL, Jan, Petr TICHOPÁDEK, Alois NEBOJSA, Olga BONAVENTUROVÁ ZRZAVECKÁ, Michal URBÁNEK, Jiří SPOUSTA, Karel NAVRÁTIL a Tomáš ŠIKOLA. In situ analysis of PMPSi by spectroscopic ellipsometry and XPS. Surface and Interface Analysis. USA: John Wiley & Sons, 2004, roč. 2004, č. 36, s. 1218-1221. ISSN 0142-2421.

   Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/559741/cs