Výpis publikací

2005

1. Spectroscopic ellipsometry of sinusoidal surface-relief gratings

   ANTOŠ, Roman, Ivan OHLÍDAL, Daniel FRANTA, Petr KLAPETEK, Jan MISTÍK, Tomuo YAMAGUCHI a Štefan VIŠŇOVSKÝ. Spectroscopic ellipsometry of sinusoidal surface-relief gratings. Applied Surface Science. USA: ELSEVIER (NORTH-HOLLAND), 2005, roč. 244, 1-4, s. 221-224. ISSN 0169-4332.

   Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/621445/cs
2. Spectroscopic ellipsometry on lamellar gratings

   ANTOŠ, Roman, Ivan OHLÍDAL, Jan MISTRÍK, K. MURAKAMI, Tomuo YAMAGUCHI, J. PIŠTORA, M. HORIE a Štefan VIŠŇOVSKÝ. Spectroscopic ellipsometry on lamellar gratings. Applied Surface Science. USA: ELSEVIER (NORTH-HOLLAND), 2005, roč. 244, 1-4, s. 225-229. ISSN 0169-4332.

   Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/630341/cs