ANTOŠ, Roman, Ivan OHLÍDAL, Jan MISTRÍK, K. MURAKAMI, Tomuo YAMAGUCHI, J. PIŠTORA, M. HORIE a Štefan VIŠŇOVSKÝ. Spectroscopic ellipsometry on lamellar gratings. Applied Surface Science. USA: ELSEVIER (NORTH-HOLLAND), 2005, roč. 244, 1-4, s. 225-229. ISSN 0169-4332.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Spectroscopic ellipsometry on lamellar gratings
Název česky Spektroskopická elipsometrie na lamelárních mřížkách
Autoři ANTOŠ, Roman (203 Česká republika), Ivan OHLÍDAL (203 Česká republika, garant), Jan MISTRÍK (203 Česká republika), K. MURAKAMI (392 Japonsko), Tomuo YAMAGUCHI (392 Japonsko), J. PIŠTORA (203 Česká republika), M. HORIE (392 Japonsko) a Štefan VIŠŇOVSKÝ (203 Česká republika).
Vydání Applied Surface Science, USA, ELSEVIER (NORTH-HOLLAND), 2005, 0169-4332.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10306 Optics
Stát vydavatele Spojené státy
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Impakt faktor Impact factor: 1.263
Kód RIV RIV/00216224:14310/05:00013300
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
UT WoS 000228600200052
Klíčová slova anglicky optical metrology; scatterometry; spectroscopic ellipsometry; diffraction grating; wood anomaly; RCWA
Štítky diffraction grating, optical metrology, RCWA, scatterometry, spectroscopic ellipsometry, wood anomaly
Změnil Změnil: prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc., učo 2397. Změněno: 28. 2. 2006 19:25.
Anotace
Deep lamellar diffraction gratings fabricated by etching a transparent quartz plate are studied using spectroscopic ellipsometry. The rigorous coupled-wave analysis is used to calculate the optical response of the gratings. Three parameters of the rectangular profile are determined by utilizing the least-square method. Detailed investigation of the spectral dependences demonstrates the uniqueness of the solution. Observing the spectral dependences of Wood anomalies suggests that even complicated profiles can be fitted with high authenticity.
Anotace česky
Hluboké lamelární mřížky vyrobené leptáním transparentních destiček z taveného křemene jsou studovány s využitím spektroskopické elipsometrie. Rigorózní analýza pomocí vázaných vln je užita k počítání optické odezvy mřížek. Tři parametry pravoúhlého profilu jsou určeny pomocí metody nejmenších čtverců. Podrobné zkoumání spektrálních závislostí demonstruje jednoznačnost řešení. Pozorováním spektrálních závislostí Woodových anomalií naznačuje, že i komplikované profily mohou být fitovány s vysokou spolehlivostí.
Návaznosti
GA202/03/0776, projekt VaVNázev: Magnetooptické jevy v magnetických nanostrukturách
ME 574, projekt VaVNázev: Výzkum nových materiálů pro informatiku: zvyšování hustoty magnetického záznamu
VytisknoutZobrazeno: 11. 5. 2024 23:53