Filtrování

    2000

    1. Optical characterization of thin films with randomly rough boundaries using the photovoltage method
      PAVELKA, Radek; Ivan OHLÍDAL; Jan HLÁVKA; Daniel FRANTA a Helmut SITTER. Optical characterization of thin films with randomly rough boundaries using the photovoltage method. Thin Solid Films. UK Oxford: Elsevier science, 2000, roč. 366, č. 1, s. 43-50. ISSN 0040-6090.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/329691/cs
Zobrazit podrobně