Filtrování

    2014

    1. Zařízení pro měření tloušťky polovodičových vrstevnatých struktur SOI F - Výsledky s právní ochranou
      MÜNZ, Filip a Josef HUMLÍČEK. Zařízení pro měření tloušťky polovodičových vrstevnatých struktur SOI. 2014.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/1226624/cs
Zobrazit podrobně