2016
Tetrakis(trimethylsilyloxy)silane for nanostructured SiO2-like films deposited by PECVD at atmospheric pressure
SCHÄFER, Jan; Jaroslav HNILICA; Jiří ŠPERKA; Antje QUADE; Vít KUDRLE et al.Základní údaje
Originální název
Tetrakis(trimethylsilyloxy)silane for nanostructured SiO2-like films deposited by PECVD at atmospheric pressure
Autoři
SCHÄFER, Jan; Jaroslav HNILICA; Jiří ŠPERKA; Antje QUADE; Vít KUDRLE; Rüdiger FOEST; Jiří VODÁK a Lenka ZAJÍČKOVÁ
Vydání
Surface and Coatings Technology, 2016, 0257-8972
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Článek v odborném periodiku
Obor
10305 Fluids and plasma physics
Stát vydavatele
Velká Británie a Severní Irsko
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Odkazy
Impakt faktor
Impact factor: 2.589
Kód RIV
RIV/00216224:14310/16:00087594
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
UT WoS
000376834700017
EID Scopus
2-s2.0-84951193869
Klíčová slova anglicky
Tetrakis(trimethylsilyloxy)silane; Tetrakis(trimethylsiloxy)silane; Plasma jet; Silicon dioxide
Příznaky
Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 10. 7. 2025 16:08, Mgr. Petra Trembecká, Ph.D.
Anotace
V originále
We performed the thin films deposition using atmospheric pressure plasma enhanced chemical vapour deposition (AP-PECVD) by means of a radiofrequency and a microwave plasma jets operating with mixtures of argon and tetrakis(trimethylsilyloxy)silane (TTMS).
Návaznosti
| ED1.1.00/02.0068, projekt VaV |
| ||
| ED2.1.00/03.0086, projekt VaV |
| ||
| LO1411, projekt VaV |
| ||
| TE02000011, projekt VaV |
|