Bakalářská práce

Studium vybraných struktur pomocí mikroskopie atomárních sil

Study of selected structures using atomic force microscopy

Patrick Gono
Anotace

V tejto bakalárskej práci sa venujeme mikroskopii atómových síl (AFM). Zameriavame sa na princípy, funkciu a bežné chyby tejto experimentálnej metódy. Pomocou AFM zisťujeme vplyv výrobných parametrov, akými sú hrúbka a zloženie krycej vrstvy GaAsSb, na veľkosť a tvar kvantových bodiek InAs. Porovnávame obsah základne a predĺženie kvantových bodiek na desiatich vzorkách pripravených metódou MOVPE. Študujeme tiež rôzne režimy AFM meraní na našich vzorkách.

Abstract

In this bachelor thesis we study quantum dots using atomic force microscopy (AFM). We take a closer look on the principles, function and common artifacts of this experimental method. Using AFM we inspect the effect of growth parameters, e.g. thickness and composition of GaAsSb layers, on the size and shape of InAs quantum dots. We compare the base area and elongation of quantum dots on ten samples …více

Klíčová slova
AFM mikroskopia atómových síl artefakt bezkontaktný režim kontaktný režim poklepový režim kvantové bodky krycia vrstva InAs GaAsSb atomic force microscopy artifact non-contact mode contact mode tapping mode quantum dots strain reducing layer
Zadání práce
Mikroskopie atomárních sil poskytuje velmi přesné informace o povrchu rozličných vzorků (rozlišení struktur s laterálními i vertikálními rozměry až v řádu desetin nanometru). Od svého vzniku v 80-tých letech 20. století se jedná o jednu z nejčastějších a nejspolehlivějších metod charakterizace vzorků pevných látek. Cílem studenta bude seznámit se s metodou, naučit se ji rutinně používat, zpracovávat a správně interpretovat naměřená data a artefakty v nich obsažené. Měření budou probíhat především v kontaktním, bezkontaktním a poklepovém režimu. K měření budou vybrány vhodné a fyzikálně zajímavé vzorky. Žádoucím výsledkem projektu je také systematické sledování povrchového reliéfu alespoň jedné sady vzorků (např. kvantových teček InAs/GaAs), s pokusem o korelaci informací ve snímcích AFM s parametry přípravy.
Administrativní informace
Práce zkontrolována:
24. 5. 2014 08:54, Mgr. Petr Klenovský, Ph.D., učo 105957
Plný text práce
5,5 MB / soubor PDF
Jazyk práce
slovenština slovenština
Termín obhajoby
23. 6. 2014
Práce byla úspěšně obhájena

Vedoucí

Mgr. Petr Klenovský, Ph.D., učo 105957
Fyz PřF MU

Oponent

Mgr. Petr Klapetek, Ph.D.
Citovat tuto práci
Masarykova univerzita Přírodovědecká fakulta
Studijní program
Fyzika
Obor

Práce na příbuzné téma

Seznam prací, které mají shodná klíčová slova.

Podobné práce

  • Přidání souboru

    Soubor nebo složku lze nahrát pomocí tlačítka Přidat.

  • Další operace se soubory

    Podrobnosti lze zjistit označením příslušného řádku.

  • Pohled pro experty

    Pro častou práci je možné zvolit režim Více možností.

  • Vyhledávání souborů

    Vyhledávaný výraz můžete zadat přímo do adresního řádku.

  • Rychlý přístup k souborům

    Pomocí funkce Nedávné je možné se rychle vrátit k právě prohlíženým souborům. Oblíbené soubory je také možné označit Hvězdičkou.