Organické polovodiče jsou ve formě tenkých vrstev využívány v elektronických součástkách, jako jsou komerčně dostupné OLED či organické tranzistory a fotovoltaické články. Teplotní změny aplikované při přípravě tenkých vrstev nebo při zatížení součástek vedou k deformaci krystalové mříže popřípadě i změně krystalové fáze a změnám velikosti a uspořádání zrn. Tyto strukturní změny mohou být odlišné pro organické polovodiče v práškové formě a v tenké vrstvě. Cílem práce bude charakterizovat, kvantifikovat a porovnat tepelným žíháním vyvolané strukturní změny vybraných organických polovodičů v každé z forem. Ke studiu struktury budou použity vybrané metody rtg difrakce. V případě práškových vzorků bude třeba optimalizovat experiment pro charakterizaci malého množství dostupného materiálu. Krom charakterizace dodaných vzorků se může student pokusit i o přípravu vlastních tenkých vrstev metodami drop-castingu a spincoating. 

Literatura:

1. V. Valvoda, M. Polcarová a P. Lukáč, Základy strukturní analýzy, Univerzita Karolova, Praha (1992)
2. J. Als-Nielsen a D. McMorrow, Elements of Modern X-ray Physics, John Wiley & Sons Ltd., Londýn, 2. vyd. (2011)
3. V. K. Pecharsky a P. Y. Zavalij, Fundamentals of Powder Diffraction and Structural Characterization of Materials, Springer Science+Business Media LLC, New York, 2. vyd. (2009)