Závěrečná práce: Eliška Tomková: Určování deformace tenkých vrstev pomocí rtg difrakce
Bakalářská práce
Určování deformace tenkých vrstev pomocí rtg difrakce
Strain determination in thin layers using x-ray diffraction
Anotace
Tato práce je věnována studiu deformace epitaxních vrstev materiálu SiGe na Si(001) substrátu pomocí rentgenové difraktometrie. V prvních třech kapitolách jsou vyloženy základy kinematické teorie difrakce rentgenového záření, je nalezena souvislost mezi mapami rozptýlené intenzity v úhlovém a reciprokém prostoru a jsou uvedeny základní vlastnosti slitiny SiGe. V následující kapitole je popsáno …více
Abstract
This work deals with a study of deformation of SiGe epitaxial layers on Si(001) substrate using x-ray diffractometry. In first three chapters, fundamentals of kinematical theory of x-ray scattering are presented, connection between angular-space and reciprocal-space maps of scattered intensity is estabilished and basic properties of SiGe alloy are summarized. The experimental set-up used and the …více
11. 10. 2008 12:55, (IS automaticky)
- Zadáno/změněno 29. 6. 2007 10:05, Jindřiška Chlebečková
- Záznam založen 17. 1. 2007 11:01, Jindřiška Chlebečková
- Zveřejnit od 7. 5. 2007 14:11, Jindřiška Chlebečková
- Práce převzata 7. 5. 2007 14:11, Jindřiška Chlebečková
Vedoucí
Práce na příbuzné téma
Seznam prací, které mají shodná klíčová slova.
-
Strukturní vlastnosti topologických izolantů
Mgr. Milan Heczko -
Charakterizace strukturního poškození broušených povrchů Si pomocí rtg difrakce
Mgr. Miloš Hovorka, Ph.D., učo 41410 -
Ucelená rehabilitace jedinců s tělesným postižením v České republice a Nizozemí
Mgr. Karolína Bulová, učo 53874 -
Metodika práce s klientem s těžkým mentálním a tělesným postižením
Mgr. Lucie Šuchmová, DiS. -
Neklid
Mgr. Julie Hloušová -
Virové choroby včely medonosné (Apis mellifera)
Mgr. Andrea Foralová -
Proměny paměti
Mgr. Šimon Kříž, Ph.D., učo 411382 -
Kontrast
Mgr. Lucie Cábová




