Závěrečná práce: Bc. Miloš Hovorka, učo 41410: Charakterizace strukturního poškození broušených povrchů Si pomocí rtg difrakce
Diplomová práce
Charakterizace strukturního poškození broušených povrchů Si pomocí rtg difrakce
Anotace
Význačným prvkem v polovodičovém průmyslu je křemík představující základní materiál pro výrobu komponent z oblasti mikroelektroniky. Tato práce se zabývá charakterizací zhmožděných vrstev vzniklých broušením křemíkových krystalů diamantovou pastou. K posouzení míry, případně příčiny poškození zhmožděné vrstvy slouží rentgenová difrakce poskytující rozložení intenzity difúzního rozptylu v reciprokém …více
Abstract
Silicon is a distinctive element in the semiconductor industry. It represents the basic material for the production of the components from the microelectronics field. This thesis deals with the description of the bruised layers caused by the grinding of the silicon crystals by a diamond paste. For the evaluation of the level, eventually the reason of the damage of the bruised layers we use the …více
11. 10. 2008 12:46, (IS automaticky)
Vedoucí
Práce zveřejněna z rozhodnutí autora, M. Hovorka, 26. 9. 2011
Práce na příbuzné téma
Seznam prací, které mají shodná klíčová slova.
-
Studium struktury nano-ostrůvků rentgenovou difrakcí
Mgr. Jiří Novák, Ph.D., učo 23056 -
Rtg difrakce na polovodičových kvantových tečkách
Mgr. Eliška Tomková -
Určování deformace tenkých vrstev pomocí rtg difrakce
Mgr. Eliška Tomková -
Struktura polovodičových mikrokrystalů na mřížkově nepřizpůsobeném substrátu
Mgr. Katarína Porubčanová -
Kontrast
Mgr. Lucie Cábová -
Optická diagnostika Si v infračerveném oboru
Mgr. Tomáš Gancarčik, učo 269705 -
Effects of elaboration conditions on structural and magnetic properties of SnO2: bulks and thin films
Mgr. Petr Pazourek, učo 505353 -
Systém ucelené rehabilitace v Ústavu sociální péče pro tělesně postiženou mládež Kociánka
Mgr. Olga Teremová




