FC2803 Pokročilé fyzikální praktikum

Pedagogická fakulta
podzim 2020
Rozsah
0/0/1. 4 hodiny. 3 kr. Ukončení: k.
Vyučující
Mgr. Jan Čech, Ph.D. (přednášející)
Mgr. Lukáš Pawera (přednášející)
Garance
doc. RNDr. Petr Sládek, CSc.
Katedra fyziky, chemie a odborného vzdělávání - Pedagogická fakulta
Kontaktní osoba: Jana Jachymiáková
Dodavatelské pracoviště: Katedra fyziky, chemie a odborného vzdělávání - Pedagogická fakulta
Omezení zápisu do předmětu
Předmět je určen pouze studentům mateřských oborů.
Mateřské obory/plány
předmět má 9 mateřských oborů, zobrazit
Cíle předmětu
Cílem předmětu je získání základních vědomostí o metrologii, provádění fyzikálních experimentů v oblasti mikrosvěta a v oblasti polovodičových struktur, zpracování a vyhodnocení experimentálních dat. Důraz je kladen zejména na osvojení si experimentálních dovedností s provázaností témat základního kurzu fyziky.
Výstupy z učení
Po absolvování předmětu by měl student vědět a umět:  Základy problematiky zpracování experimentálních dat.  Samostatně provést fyzikální měření vybraných fyzikálních veličin.  Interpretovat naměřené a zpracované data.
Osnova
  • Sylabus laboratoří (po týdnech či blocích): 1. - 8. Blok Jde o pokročilejší experimentální úlohy z fyziky povrchů, čistých technologií, optiky, atomistiky a základní úlohy z jaderné fyziky. V rámci výuky předmětu studenti absolvují praktikum z technologie přípravy polovodičových součástek v Čistých prostorách pro Si technologii a základy měření elektronovým mikroskopem v Laboratoři elektronové mikroskopie (PřF MU, Kotlářská). 9. – 12. Blok 2 Jde o pokročilejší experimentální úlohy z hmotnostní spektrometrie na zařízení MALDI TOF na PdF MU. Režim lineární detekce, reflektron, LIFT.
Literatura
  • Electrospray and MALDI mass spectrometry : fundamentals, instrumentation, practicalities, and biological applications. Edited by Richard B. Cole. 2nd ed. Hoboken, N.J.: Wiley, 2010. xxx, 847. ISBN 9780471741077. info
  • PIETSCH, Ullrich, Václav HOLÝ a Tilo BAUMBACH. High-resolution X-ray scattering : from thin films to lateral nanostructures. 2nd ed. New York: Springer, 2004. xvi, 408. ISBN 0387400923. info
Výukové metody
laboratorní cvičení
Metody hodnocení
presentace laboratorní práce
Další komentáře
Předmět je vyučován každoročně.
Předmět je zařazen také v obdobích podzim 2017, podzim 2018, podzim 2019.