F8811 Elektronová optika a mikroskopie 2

Přírodovědecká fakulta
jaro 2025

Předmět se v období jaro 2025 nevypisuje.

Rozsah
2/1/0. 3 kr. (plus ukončení). Ukončení: zk.
Vyučující
Mgr. Tomáš Radlička, Ph.D. (přednášející)
Mgr. Jan Stopka, Ph.D. (přednášející)
prof. Mgr. Tomáš Tyc, Ph.D. (přednášející)
Garance
prof. Mgr. Tomáš Tyc, Ph.D.
Ústav teoretické fyziky a astrofyziky – Fyzikální sekce – Přírodovědecká fakulta
Kontaktní osoba: Mgr. Tomáš Radlička, Ph.D.
Dodavatelské pracoviště: Ústav teoretické fyziky a astrofyziky – Fyzikální sekce – Přírodovědecká fakulta
Předpoklady
F7811
Omezení zápisu do předmětu
Předmět je nabízen i studentům mimo mateřské obory.
Mateřské obory/plány
Cíle předmětu
Student se podrobně seznámí s konstrukcí elektronových mikroskopů a zobrazovacími metodami, které se používají. Budeme se soustředit na skenovací elektronové mikroskopy, transmisní elektronové mikroskopy a spektrometry energiových ztrát.
Výstupy z učení
Student bude po absolvování kurzu schopen: Kvantitativně popsat zobrazovaní ve skenovacím a transmisním elektronovém mikroskopu Rozumět informaci, kterou může ze vzorku získat pomoci zobrazovacích metod a znát limity použití jednotlivých elektronových mikroskopů Bude rozumět formování obrazu ve skenovacích a transmisních elektronových mikroskopech kvantitativně popsat princip spetrometru energiových ztrát
Osnova
  • Zdroje elektronů, které se používají v elektronových mikroskopech Skenovací elektronový mikroskop: kondenzorový systém, objektivová čočka, rozlišení, energiová filtrace, interakce elektronů se vzorkem Transmisní elektronový mikroskop: kondenzorový systém, objektivová čočka, zobrazovací systém, zobrazovací mód, difrakční mód, skenovací mód. Princip tvoření obrazu v transmisních elektronových mikroskopech: TEM, STEM, 4D STEM Energiové filtry a spektrometry energiových ztrát.
Literatura
  • REIMER, Ludwig a Helmut KOHL. Transmission electron microscopy : physics of image formation. Fifth edition. New York: Springer, 2008, xvi, 587. ISBN 9780387400938. info
  • REIMER, Ludwig. Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis. 2nd ed. Berlin: Springer, 1998, xiv, 527. ISBN 3540639764. info
  • HAWKES, Peter W a Erwin KASPER. Principles of Electron Optics: Applied Geometrical Optics. Academic Press, 1989. ISBN 0123333520. info
Výukové metody
Přednáška a cvičení
Metody hodnocení
ústní zkouška
Další komentáře
Předmět je dovoleno ukončit i mimo zkouškové období.
Předmět je vyučován každoročně.
Výuka probíhá každý týden.
  • Permalink: https://is.muni.cz/predmet/sci/jaro2025/F8811