F7360 Charakterizace povrchů a tenkých vrstev

Přírodovědecká fakulta
podzim 2003
Rozsah
2/0/0. 2 kr. Ukončení: k.
Vyučující
doc. Mgr. Lenka Zajíčková, Ph.D. (přednášející)
Garance
prof. RNDr. Jan Janča, DrSc.
Ústav fyziky a technologií plazmatu – Fyzikální sekce – Přírodovědecká fakulta
Kontaktní osoba: doc. RNDr. Ladislav Sodomka, CSc.
Omezení zápisu do předmětu
Předmět je nabízen i studentům mimo mateřské obory.
Mateřské obory/plány
Cíle předmětu
Cílem prednášky je poskytnout studentovi prehled o fyzikálních metodách používaných pro charakterizaci povrchu a tenkých vrstev. Prednáška je rozdelena do trí cástí. Úvodní cást prednášky se zabývá shrnutím typu materiálu z hlediska jejich struktury, prípravou cistých povrchu a základními aspekty interakce pevné látky s fotony, elektrony, ionty a neutrálními cásticemi. Druhá cást prednášky se pak soustreduje na jevy a metody spojené s elektronovou spektroskopií (XPS, UPS, AES, EELS, FES, APS). Ve tretí cásti je venována pozornost principum a metodám analýz pomocí iontových svazku (RBS, ERDA, NRA atd.).
Osnova
  • 1. Úvod: atomové vazby; typy materiálu (keramika, skla, kovy a slitiny, polymery, kompozitní materiály) a jejich mikrostruktura; definice a struktura povrchu; výstupní práce a povrchové stavy; metody získávání cistých povrchu; základy interakce pevné látky s fotony, elektrony, ionty a neutrálními cásticemi (poškození povrchu, hloubka vniku, rozlišení) 2. Elektronová spektroskopie: termoemise; fotoemise; tunelová emise; jevy zpusobené dopadem elektronu na pevné látky; experimentální základy metod elektronové spektroskopie; fotoelektronová spektroskopie (UPS, XPS); spektroskopie využívající buzení elektrony (AES, EELS); autoemisní elektronová spektroskopie (FES); spektroskopie prahových potenciálu (APS) 3. Analýza iontovými svazky: jevy zpusobené dopadem iontu na pevné látky (rozptyl iontu, tunelování, rozprašování); experimentální základy metod iontových svazku; spektroskopie rozptýlených iontu (RBS, ERDA, LEIS); metody založené na jaderných reakcích (NRA); metoda iontove indukované emise rtg zárení (PIXE); hmotnostní spektrometrie sekundárních iontu (SIMS)
Literatura
  • FLEWITT, P. E. J. a R. K. WILD. Physical methods for materials characterisation. Bristol1: IOP, 1994. ISBN 0 7503 0320 4. info
  • ECKERTOVÁ, L. Metody analýzy povrchu - elektronová spektroskopie. Praha: Akademia, 1990. ISBN 80-200-0261-8. info
  • BIRD, J. R. a J. S. WILLIAMS. Ion beam for materials analysis. Sydney: Academic Press, 1989. ISBN 0 12 099740 1. info
Další komentáře
Předmět je dovoleno ukončit i mimo zkouškové období.
Předmět je vyučován každoročně.
Výuka probíhá každý týden.
Výuka předmětu v PS 2003 zrušena.
Předmět je zařazen také v obdobích podzim 1999, jaro 2008 - akreditace, podzim 2000, jaro 2002, podzim 2002, jaro 2005, jaro 2006, jaro 2007, jaro 2008, jaro 2009, jaro 2010, jaro 2012, jaro 2012 - akreditace, jaro 2014, jaro 2016, jaro 2018, jaro 2020, jaro 2022, jaro 2024.