NEUHOLD, Alfred, Stefanie FLADISCHER, Stefan MITSCHE, Heinz-Georg FLESCH, Armin MOSER, Jiří NOVÁK, Detlef M SMILGIES, Elke KRAKER, Bernhard LAMPRECHT, Anja HAASE, Werner GROGGER a Roland RESEL. Structure and morphology of an organic/inorganic multilayer stack: An x-ray reflectivity study. Journal of Applied Physics. Melville, USA: American Institute of Physics, roč. 110, č. 11, 7 s. ISSN 0021-8979. doi:10.1063/1.3667171. 2011.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Structure and morphology of an organic/inorganic multilayer stack: An x-ray reflectivity study
Autoři NEUHOLD, Alfred, Stefanie FLADISCHER, Stefan MITSCHE, Heinz-Georg FLESCH, Armin MOSER, Jiří NOVÁK, Detlef M SMILGIES, Elke KRAKER, Bernhard LAMPRECHT, Anja HAASE, Werner GROGGER a Roland RESEL.
Vydání Journal of Applied Physics, Melville, USA, American Institute of Physics, 2011, 0021-8979.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Impakt faktor Impact factor: 2.168
Doi http://dx.doi.org/10.1063/1.3667171
UT WoS 000298254800175
Změnil Změnil: Mgr. Jiří Novák, Ph.D., učo 23056. Změněno: 27. 9. 2013 11:35.
VytisknoutZobrazeno: 28. 3. 2024 22:08