J 2018

Optical quantities of multi-layer systems with randomly rough boundaries calculated using the exact approach of the Rayleigh–Rice theory

ČERMÁK, Martin; Jiří VOHÁNKA; Ivan OHLÍDAL a Daniel FRANTA

Základní údaje

Originální název

Optical quantities of multi-layer systems with randomly rough boundaries calculated using the exact approach of the Rayleigh–Rice theory

Autoři

ČERMÁK, Martin (203 Česká republika, garant, domácí); Jiří VOHÁNKA (203 Česká republika, domácí); Ivan OHLÍDAL (203 Česká republika, domácí) a Daniel FRANTA (203 Česká republika, domácí)

Vydání

Journal of modern optics, Taylor & Francis, 2018, 0950-0340

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10306 Optics

Stát vydavatele

Velká Británie a Severní Irsko

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Odkazy

Impakt faktor

Impact factor: 1.657

Kód RIV

RIV/00216224:14310/18:00103626

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

UT WoS

000435121500010

EID Scopus

2-s2.0-85048549230

Klíčová slova anglicky

Multilayer systems; rough boundaries; ellipsometric parameters; reflectance; transmittance
Změněno: 11. 9. 2018 16:50, Mgr. Martin Čermák, Ph.D.

Anotace

V originále

In this paper the exact approach of the Rayleigh–Rice theory enabling us to calculate optical quantities of multi-layer systems with boundaries exhibiting slight random roughness is presented. This approach is exact in the sense that it takes into account the propagation of perturbed electromagnetic fields (waves) among randomly rough boundaries including all cross-correlation and auto-correlation effects. The restriction to the second order of perturbation, which is the lowest order that gives nonzero corrections to coherent waves (obeying the Snell’s law), represents the only approximation used in our calculations. It is assumed that the layers and the substrates are formed by optically homogeneous and isotropic materials. The formulae obtained in the theoretical part are used to investigate the influence of layer thicknesses and roughness parameters on reflectances and associated ellipsometric parameters of the selected numerical examples of a three-layer system. The presented approach represents the generalization of the exact approach for single-layer systems and the improvement of the approximate approach for multi-layer systems published earlier. The exact approach of the RRT has a substantial importance for the optical characterization of multi-layer systems occurring in applied research and optics industry applications.

Návaznosti

LO1411, projekt VaV
Název: Rozvoj centra pro nízkonákladové plazmové a nanotechnologické povrchové úpravy (Akronym: CEPLANT plus)
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Rozvoj centra pro nízkonákladové plazmové a nanotechnologické povrchové úpravy