SŤAHEL, Pavel, S HAMMA, Petr SLÁDEK a Pere ROCA I CABARROCAS. Metastability studies in silicon thin films: from short range ordered to medium and long range ordered materials. Journal of Non-Crystalline Solids. Nizozemsko: Elsevier Science B.V., 1998, roč. 227, PART 1, s. 276-280. ISSN 0022-3093. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1016/S0022-3093(98)00269-5.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Metastability studies in silicon thin films: from short range ordered to medium and long range ordered materials
Autoři SŤAHEL, Pavel, S HAMMA, Petr SLÁDEK a Pere ROCA I CABARROCAS.
Vydání Journal of Non-Crystalline Solids, Nizozemsko, Elsevier Science B.V. 1998, 0022-3093.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele Nizozemské království
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Impakt faktor Impact factor: 1.062
Organizační jednotka Pedagogická fakulta
Doi http://dx.doi.org/10.1016/S0022-3093(98)00269-5
UT WoS 000074643400056
Klíčová slova anglicky metastability; microcrystalline Si; a-Si; thin film
Příznaky Mezinárodní význam, Recenzováno
Změnil Změnila: Dana Nesnídalová, učo 831. Změněno: 3. 2. 2020 15:58.
Anotace
The effects of disorder on the kinetics of creation of metastable defects on silicon thin films have been studied through the evolution of the dark conductivity, the photoconductivity and the subgap absorption. Hydrogenated amorphous silicon, representative of short range ordered materials has been compared to polymorphous silicon (medium range order) and to microcrystalline silicon (long range order). Changing from short range ordered to medium range ordered materials results in a faster kinetics of creation of metastable defects as well as to films with better properties in both as-deposited and light-soaked states. Microcrystalline silicon films with crystalline fractions above 60% present stability and an improvement of their properties during light-soaking. (C) 1998 Elsevier Science B.V. All rights reserved.
VytisknoutZobrazeno: 19. 9. 2024 03:44