1997
Microhardness measurements of the thin layers of the amorphous drogenated silicon
ŠŤASTNÝ, Jiří; Petr SLÁDEK a Pavel SŤAHELZákladní údaje
Originální název
Microhardness measurements of the thin layers of the amorphous drogenated silicon
Autoři
ŠŤASTNÝ, Jiří; Petr SLÁDEK a Pavel SŤAHEL
Vydání
Brno, JUNIORMAT 97, s. 388-388, 1997
Nakladatel
Ústav materiálového inženýrství, fakulta strojní VUT Brno
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Kapitola resp. kapitoly v odborné knize
Obor
10302 Condensed matter physics
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Označené pro přenos do RIV
Ano
Organizační jednotka
Pedagogická fakulta
ISBN
80-86122-04-2
Změněno: 28. 5. 1999 09:38, doc. RNDr. Petr Sládek, CSc.