C 1997

Microhardness measurements of the thin layers of the amorphous drogenated silicon

ŠŤASTNÝ, Jiří; Petr SLÁDEK a Pavel SŤAHEL

Základní údaje

Originální název

Microhardness measurements of the thin layers of the amorphous drogenated silicon

Autoři

ŠŤASTNÝ, Jiří; Petr SLÁDEK a Pavel SŤAHEL

Vydání

Brno, JUNIORMAT 97, s. 388-388, 1997

Nakladatel

Ústav materiálového inženýrství, fakulta strojní VUT Brno

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Kapitola resp. kapitoly v odborné knize

Obor

10302 Condensed matter physics

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Označené pro přenos do RIV

Ano

Organizační jednotka

Pedagogická fakulta

ISBN

80-86122-04-2
Změněno: 28. 5. 1999 09:38, doc. RNDr. Petr Sládek, CSc.