ŠŤASTNÝ, Jiří, Petr SLÁDEK a Pavel SŤAHEL. Microhardness measurements of the thin layers of the amorphous drogenated silicon. In JUNIORMAT 97. Brno: Ústav materiálového inženýrství, fakulta strojní VUT Brno. s. 388. ISBN 80-86122-04-2. 1997.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Microhardness measurements of the thin layers of the amorphous drogenated silicon
Autoři ŠŤASTNÝ, Jiří, Petr SLÁDEK a Pavel SŤAHEL.
Vydání Brno, JUNIORMAT 97, s. 388-388, 1997.
Nakladatel Ústav materiálového inženýrství, fakulta strojní VUT Brno
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Kapitola resp. kapitoly v odborné knize
Obor 10302 Condensed matter physics
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Organizační jednotka Pedagogická fakulta
ISBN 80-86122-04-2
Změnil Změnil: doc. RNDr. Petr Sládek, CSc., učo 1617. Změněno: 28. 5. 1999 09:38.
VytisknoutZobrazeno: 19. 4. 2024 22:12